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主要技术指标：扫描范围：90µmx90µmx8µm。分辨率：<0.5Å(NanoManVS型)<0.3Å(MultiModeV型)。 主要附件及功能：高温成像配件液体...
湖南
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主要技术指标：1、扫描范围:XY方向70um、Z方向5um，另外有10um扫描器选配;;2、扫描步进：70um扫描器＜1nm，10um扫描器＜0.1nm;3、最大样品尺寸：15mm×15mm;4、反馈机制：光束偏转;5、操...
湖南
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主要技术指标：分辨率：XY方：0.2nm；z方向：01nm。扫描器工作范围：1um×1um,3um×3um，20um×20um，50um×50um，100um×100um可选，扫描角度：0～360度，连...
湖南
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主要技术指标：高度精度为0.2nm，测试面积为20*20mm和100*100mm(分属两种样品台),测试高度差为15mm以内 主要测试研究领域：材料，其它 仪器联系人：李晖 电话：...
四川
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联系人：曾志刚(66135239) 仪器简介： BrukerDimensionEdge 主要技术指标： 闭环噪音水平：XY方向小于0.5nm，Z方...
上海宝山区
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技术指标：测定模式标准：接触、动态、相位分辨率水平0.2nm 垂直0.01nm最大扫描范围（X/Y/Z）30μm×30μm×5μm（标准）最大样品形状24mm×8mm样品装载方式头部滑动机构分束器...
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技术指标：◇分辨率横向：≥0.1nm纵向：≥0.01nm；◇扫描范围3μm×3μm；20μm×20μm；◇扫描频率1Hz~100Hz◇步进电机及丝杠控制10nm精度◇光栅扫描旋转角度0~360o◇样品台大小10x10x10m...
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技术指标：横向分辨率达0.2nm，纵向0.01nm；测量范围最大150μm仪器用途：用于纳尺度表面性能表征，可得到原子级分辨率的三维形貌图；能够在测定形貌的同时测定摩擦力、粘弹性、电流、介电特性...
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技术指标：测量范围最大150微米仪器用途：测表面形貌,摩擦力,磁力.粘弹性,电位分布,电化学反应,纳米刻蚀.收费标准：180元/小时机组负责人：郭万林 025-84895827 ...
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技术指标：仪器用途：收费标准：机组负责人：
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技术指标：仪器用途：收费标准：机组负责人：王牧 025-83594460
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技术指标：扫描器：横向(X-Y)范围90*90μm；竖直(Z)范围15μm(标配型)。样品大小：直径≤100mm,厚度≤20mm。仪器用途：操作模式包括：轻敲模式(TappingModeAFM)-拥有Q-control控制技术；接...
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技术指标：联合了非破坏性扫描、简便的样品制备和固定以及光学成像于一体，能够实现与电子显微镜相比拟的横向纳米级分辨率和纵向A级分辨率，其放大倍数比标准光学显微镜大两个数量级，但不象电...
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技术指标：扫描范围：XY方向200μm×200um，Z方向10μm，STM分辨率：XY方向＜1埃，Z方向＜0.1埃，HOPG常规原子分辨率，AFM分辨率：XY方向＜2埃，Z方向＜0.5埃仪器用途：固体材料、表面形貌、摩擦...
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主要技术指标：扫描范围100um(微米)，纵向分辨率优于1A(埃)，横向分辨率优于1nm(纳米)。 功能/应用范围：扫描探针显微镜(SPM)的纳米量级的分辨率和光学显微镜的...
上海杨浦区
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主要技术指标：AFM噪声水平0.3,可对云母、石墨原子像成像控制器反馈相应时间：2s,采样率50MHZ扫描范围：0.4μm×0.4μm×0.4μm或10μm×10μm×2...
上海杨浦区
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主要技术指标：美国di公司，扫描探针显微镜NanoScopeIV原子力显微镜(AFM)能立体三维观察物体形貌，侧向分辨率(X-Y方向)2nm，垂直分辨率(Z方向)0.1nm。具有多种探测(接触、非接触...
上海杨浦区
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扫描探针显微镜 (scanning probe microscope)
主要技术指标：50x50x2.5μm扫描器，AFM横向分辨率10-50nm，纵向分辨率〉1nm。 功能/应用范围：功能包括：AFM，CAFM和EFM主要可用于较大范围(1-50um)的表面性貌的测试和简...
上海杨浦区
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扫描探针显微镜 (Scanning Probe Microscopy)
主要技术指标：扫描范围：10μm×10μm横向分辨率：~5nm(电学测量模式为10~20nm)CAFM电流分辨率<5pA 功能/应用范围：功能包括：AFM，EFM，CAFM，SKM，SCM等...
上海杨浦区
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