技术指标:扫描器:横向(X-Y)范围90*90μm;竖直(Z)范围15μm (标配型)。 样品大小:直径≤100mm, 厚度≤20mm。
仪器用途:操作模式包括:轻敲模式(Tapping Mode AFM)-拥有Q-control控制技术;接触模式(Contact Mode AFM);定量相位成像模式(Phase Imaging);横向力模式(LFM);磁场力显微技术(MFM); 静电力显微技术(EFM);动态和静态力曲线测试(Force-Distance);力阵列测量(Force Volume Measurement); 纳米压痕/划痕;超高分辨率导电显微技术(ORCA);压电响应模式(PFM);高次谐波成像模式(Dual AC Mode);分子力力谱模式(Molecular Force Spectroscopy);双频共振追踪压电模式(Dual frequency resonance tracking) 用途: 主要用于材料的形貌、电学、磁学和机械性能的观测和研究;利用纳米刻蚀和操纵功能还能进行一些纳米结构的制备。
收费标准:自备探针:80元/样,不备探针:150元/样。
机组负责人:姜燕 15162999562 sys417@ujs.edu.cn