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主要技术指标: *dc-4.1GHz频率覆盖,具有36MHz分析带宽 *灵活的解调,对许多标准制式的单键设置 *Agilent独特的差错分析特性,包括随时间变化的EVM,随时间变化的相...
上海杨浦区
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主要技术指标:AFM噪声水平0.3,可对云母、石墨原子像成像控制器反馈相应时间:2s,采样率50MHZ扫描范围:0.4μm×0.4μm×0.4μm或10μm×10μm×2...
上海杨浦区
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主要技术指标:分辨率10X10纳米Multimode8型 功能/应用范围:纳米材料表面形貌、纳米薄膜粗糙度研究,纳米材料粒径测量、纳米复合材料相组成研究及复合材料界面研究...
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主要技术指标:Avg.ModelockedPower:>300mW Bandwidth:>70nm CentralWavelength(nominal):800nm RepetitionRate:80MHz PulseWidth:<20fs Internal...
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主要技术指标:测量模式:接触模式、轻巧模式、MFM、EFM、智能扫描模式、抬高模式、力曲线模式、TR-Mode、横向力模式、STM、C-AFM;XY方向不小于90µm×90µm,Z方向不小于10...
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主要技术指标:分辨率:1.0nm@15kV、1.9nm@1kV;离子束分辨率:2.5nm@30kV;加速电压:0.1-30kV(SEM)、1-30kV(FIB) 功能/应用范围:用于各种微纳器件和低维纳米人工结构的制作,是...
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主要技术指标:分辨率:1.0nm@15kV、1.9nm@1kV;离子束分辨率:2.5nm@30kV;加速电压:0.1-30kV(SEM)、1-30kV(FIB) 功能/应用范围:用于各种微纳器件和低维纳米人工结构的制作,是...
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