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外科植入物用不锈钢GB4234-2003
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金属和合金的腐蚀 不锈钢晶间腐蚀试验方法GB/T4334-2008
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刚玉磨料中α-Al2O3相X射线定量测定方法GB/T14321-2008
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硅片弯曲度测试方法GB/T6619-2009
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硅单晶电阻率测定方法GB/T1551-2009,半导体硅片电阻率及硅薄膜层电阻测定非接触涡流法GB/T6616-2009,硅片径向电阻率变化测量方法GB/T11073-2007,硅晶体中间隙氧含量红外吸收测量方法GB/T1557...
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用红外吸收法测量硅中间隙氧含量的标准方法SEMIMF1188-1107,硅晶体中间隙氧含量径向变化测量方法GB/T14144-2009,硅片中间隙氧含量径向变化的标准测试方法SEMIMF951-0305,硅中代（替）位碳...
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非本征半导体中少数载流子扩散长度的稳态表面光电压测试方法YS/T679-2008,用稳态表面光电压法测量硅中少数载流子扩散长度的标准方法SEMIMF391-0708,硅片载流子复合寿命的无接触微波反射光电导...
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硅抛光片表面质量目测检验方法GB/T6624-2009,硅抛光片表面颗粒测试方法GB/T19921-2005
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硅片表面金属沾污的全反射X光荧光光谱测试方法GB/T24578-2009,代替使用全反射X光荧光光谱测量硅片沾污的测试方法SEMIMF1526-1103
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硅抛光片氧化诱生缺陷的检测方法GB/T4058-2009
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硅片直径测量方法GB/T14140-2009
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国家有色金属及电子材料分析测试中心引进了美国ThermoFisher公司最新型号的ElementGD辉光放电质谱仪(GDMS)，适用于金属中ppb级及其以上含量的杂质分析，可以检测5N、6N高纯铝、铜、锌、...
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国家有色金属及电子材料分析测试中心从20世纪五十年代起开展稀土分析方法研究，是国内稀土检测的权威机构，同时是国家稀土标准分析方法的主要起草单位。中心面向社会提供稀土检测服务，可...
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国家有色金属及电子材料分析测试中心，是贵金属检测的专业机构，可以根据国家标准的要求，化验各种贵金属，确定贵金属的纯度，为贵金属交易买卖提供保障。检测项目如下：贵金属检测项...
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不锈钢具有不锈和耐蚀特性及其他优良特性，在各工业部门及日常生活中，已获得广泛的应用，包括：汽车、建筑、化工、石油、环保、制药、仪器机械、供水、锅炉热交换器等领域。 ...
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格宾网，又名石笼网，用途十分广泛。可用于边坡支护、基坑支护、山体岩面挂网喷浆、边坡、植生（绿化）、铁路高速公路隔离护拦网，它还能制成石笼、石垫，用于江河、堤坝及海塘的防冲刷保...
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国家有色金属及电子材料分析测试中心，可以针对钢厂除尘灰的各种化学组分进行化验。中心采用重量法、滴定法、ICP光谱法等手段，检测项目包括Pb,Ni,Cr,Zn等元素。 电话：...
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国家有色金属及电子材料分析测试中心长期开展难熔金属及其化合物的检测，并积极参与相关检测标准的起草工作，为生产企业的质量控制把关，为产品的交易提供保障，为相关研究的开展进行技术...
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中心简介与服务范围国家有色金属及电子材料分析测试中心是一九八三年六月经原国家科委批准成立的第一个国家级分析测试机构，建设在北京有色金属研究总院，业务上受国家科学技术部...
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