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智能黑板MTBF报告检测机构CNAS实验室教育设备可靠性测试
安博检测过MTBF产品如下,都是政府或者企业招标需要的MTBF报告MTBF报告CNAS检测机构CMA资质实验室稳定性CNAS资质实验室出具MTBF报告平均无故障时间测试平均无故障MTBF时间检测报告投标招标用加...
广东
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分立器件静态参数测试(DC) 执行标准:MIL-STD-750,IEC60747、JB/T7626-2013、GB/T29332-2012、GJB128B-2021试验对象:DIODE、BJT、SCR、MOSFET、IGBT、SiC器件等分立器件...
陕西西安
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分立器件静态参数测试(DC) 执行标准:MIL-STD-750,IEC60747、JB/T7626-2013、GB/T29332-2012、GJB128B-2021试验对象:DIODE、BJT、SCR、MOSFET、IGBT、SiC器件等分立器件...
陕西西安
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分立器件静态参数测试(DC) 执行标准:MIL-STD-750,IEC60747、JB/T7626-2013、GB/T29332-2012、GJB128B-2021试验对象:DIODE、BJT、SCR、MOSFET、IGBT、SiC器件等分立器件...
陕西西安
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分立器件静态参数测试(DC) 执行标准:MIL-STD-750,IEC60747、JB/T7626-2013、GB/T29332-2012、GJB128B-2021试验对象:DIODE、BJT、SCR、MOSFET、IGBT、SiC器件等分立器件...
陕西西安
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分立器件静态参数测试(DC) 执行标准:MIL-STD-750,IEC60747、JB/T7626-2013、GB/T29332-2012、GJB128B-2021试验对象:DIODE、BJT、SCR、MOSFET、IGBT、SiC器件等分立器件...
陕西西安
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分立器件静态参数测试(DC) 执行标准:MIL-STD-750,IEC60747、JB/T7626-2013、GB/T29332-2012、GJB128B-2021试验对象:DIODE、BJT、SCR、MOSFET、IGBT、SiC器件等分立器件...
陕西西安
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分立器件静态参数测试(DC) 执行标准:MIL-STD-750,IEC60747、JB/T7626-2013、GB/T29332-2012、GJB128B-2021试验对象:DIODE、BJT、SCR、MOSFET、IGBT、SiC器件等分立器件...
陕西西安
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分立器件静态参数测试(DC) 执行标准:MIL-STD-750,IEC60747、JB/T7626-2013、GB/T29332-2012、GJB128B-2021试验对象:DIODE、BJT、SCR、MOSFET、IGBT、SiC器件等分立器件...
陕西西安
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低温实验的目的仅限于用来确定原件、设备或其他产品在低温环境下使用、运输和贮存的能力。机械工业仪器仪表综合技术经济研究所检测中心(北京仪综测业科技发展有限公司)是一家专业进行各类环...
北京
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高温实验的目的仅限于用来确定原件、设备或其他产品在低温环境下使用、运输和贮存的能力。机械工业仪器仪表综合技术经济研究所检测中心(北京仪综测业科技发展有限公司)是一家专业进行各类环...
北京
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湿热试验用于确定电工电子产品、元件或设备在高湿度的条件下使用、贮存和运输时的适应性。本部分规定了试验的严酷等级,如高温度、高湿度和持续时间等,适用于散热和非散热型样品机械工业仪...
北京
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振动试验方法,适用于在运输或者在试用期间可能在船舶、航空飞行器、陆用车辆、旋翼飞行器空间应用,以及因机械或者地震现象导致旋转、脉动或摆动力产生共振的元件、设备和其他产品(简称样品)...
北京
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温度变化试验用于确定一次或连续多次温度变化对试验样品的影响。本试验不能用来考核仅由高温或低温所引起的影响,对这种影响,应使用高温或低温试验方法,影响温度变化试验的主要参数是:温度...
北京
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温度/湿度组合循环试验,用来揭示试验样品由不同吸湿的呼吸作用导致的缺陷。机械工业仪器仪表综合技术经济研究所检测中心(北京仪综测业科技发展有限公司)是一家专业进行各类环境试验的专业...
北京
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自由跌落用于确定产品在搬运器件由于粗率装卸遭到跌落的适应性,或确定安全要求用的最低牢固等级。机械工业仪器仪表综合技术经济研究所检测中心(北京仪综测业科技发展有限公司)是一家专业进...
北京
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机械冲击的试验目的是用来揭露机械弱点和(或)性能下降的情况。机械工业仪器仪表综合技术经济研究所检测中心(北京仪综测业科技发展有限公司)是一家专业进行各类环境试验的专业的第三方检测...
北京
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盐雾试验适用于预定耐受含盐大气的元件或设备,其耐受程度随选用的严酷等级而定,盐能降低金属零件和(或)非金属零件的性能。还可以显示某些非金属材料因吸收盐而劣化的程度。也用于比较具有...
北京
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碰撞试验适用于元器件、设备和其他电工电子产品,这些样品在运输或使用器件可能遭受到重复冲击,也可以作为确定样品在结构强度方面的满意设计的一种方法,或作为质量控制的手段,碰撞试验基本上...
北京
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温度冲击试验目的在于确定试验设备在经受周围大气温度急剧变化(温度冲击)时,是否产生物理破坏或性能下降。(急剧变化是指温度变化率大于10℃/min)机械工业仪器仪表综合技术经济研究所检测...
北京