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物理特性测试系统 (physical property measurement system)
主要技术指标：温度范围：1.9-400K；磁场：+-9TACMS选件：交流磁化率：2*10-8emu；直流磁化率：2.5*10-5emu；VSM选件：直流磁化率：10-7emuACT交流电输运；Resistivity电阻(<=4M欧姆...
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磁光测量低温恒温系统 (magneto plasmadynamic measurement low temperature
主要技术指标：用于磁光效应的检测，可以测量其偏振性，相干性 功能/应用范围：磁体，光学测量 主要测试和研究领域：材料/珠宝首饰其他...
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近场扫描光学显微镜 (Scan near-field optical microscopy)
主要技术指标：采用3DFlatscan扫描器，扫描范围:XY方向70um、Z方向70um，另外有30um和10um扫描器选配，扫描步进：70um扫描器＜1nm、10um扫描器＜0.1nm，扫描器厚度7mm,重量75克；近场光学显...
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扫描探针显微镜 (Scanning Probe Microscopy)
主要技术指标：扫描范围：10μm×10μm横向分辨率：~5nm(电学测量模式为10~20nm)CAFM电流分辨率<5pA 功能/应用范围：功能包括：AFM，EFM，CAFM，SKM，SCM等...
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