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主要技术指标:窑内温度:室温~100℃;窑内湿度:~85%;装材量:2×1m3;加热功率:2×10KW。 主要附件及功能:加热系统、气流循环系统、排湿系统、喷蒸系统、检测...
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主要技术指标:纳米型激光粒度仪1.测量范围:NanoTec;干法:20nm-1000μm湿法:20nm-1000μm2.测量通道:520个3.光源:波长655nm功率7mW4.测量时间:10s~20s5.测量结...
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主要技术指标:1.测量范围:比表面积≥0.01m2/g;孔体积(结构):<0.0001cc/g;孔径范围:3.5~2000埃;2.最小可分辨相对压力(P/Po):2×10-5(N2)3.压力传感器准确度:<±...
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主要技术指标:1.粒度测定范围:0.6nm-6000nm2.Zeta电位测定范围:电导率0~200Ms/cm的样品3.灵敏度:0.1mg/ml溶菌酶单体4.分子量测定范围:1×103~2×107道尔顿5.被测样品...
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主要技术指标:测量精度:1.最小可识别体积:10-4cm3/g;2.准确性:±1%;3.重现性:±1%;4.总表面积:0.1~400m2;5.比表面积:0.01m2/g~无限大。配置:一、高温炉:1.室温~1100度温度区...
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主要技术指标:加热控制:室温—40°C±0.5°C达到加热时间:达到40°C设置温度98%的时间少于4小时。冷却控制:室温—10°C±0.5°C达到冷却时间:达...
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主要技术指标:测量原理:动态常压连续氮吸附法气体:高纯氮(99.99%)、高纯氦(99.99%)气体流量:≤100mL/min流量控制:稳压稳流系统,高精度流量传感器,数字显示,显示精度0.1%测量压...
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主要技术指标:1.样品规格:220×∞×70mm;8″WaferonWT200M/E;12″WaferonWT300M/EwithOCA20L;样品台规格:100×100mm2.接触角测量范围:0...
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主要技术指标:动态振荡最小扭矩(控制速率模式):0.03μN.m动态振荡最小扭矩(控制应变模式):0.1μN.m稳态最小扭矩(控制速率模式):0.05μN.m稳态最小扭矩(控制应变模式):0.1μ...
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主要技术指标:最大力:50kN,最大速度:600mm/min,动态速度范围:>400000:1,速度精度:好于设置点的0.1%,温度范围:室温-400°C,温度控制:4段,<+/-0.1°C,压力传...
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主要技术指标:粒度-NIBS技术可以对0.6纳米至6微米的颗粒和分子进行测量。Zeta电位-M3-PALS技术能够对水分散和非水分散体系中的zeta电位进行精确的测量。分子量-雪崩光电二极管检测器...
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主要技术指标:1.轴向载荷:0-20kN,精度:±1%(10%-95%FS);2.控制方式:a.等应变控制:0.002-4mm/min.±10%,b.等应力控制:3kN-30kN,精度:±1%;3.试件尺寸:61.8x125mm...
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主要技术指标:最高位移速度:1.2m/s;温度:0-1600度;载荷范围:正负80千牛;最大应变速度:50s-1;升降温速度:10000度/秒; 主要附件及功能:高温真空系统高温真空拉压试验...
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主要技术指标:1、0.02-2000um,2、1000次/秒扫描速度,3、标准操作规程SOP,4、高灵敏度亚微米区测量性能 主要应用领域:生态环境,材料 检测项目:粒径分布、粒度均值...
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主要技术指标:压力传感器:±0.11%;传感器线性度:±0.05%灵敏度:<2×10-8摩尔吸收或解吸的气体;表面积范围:0.0005-5000m2/g孔体积:下限<0.0001cc/g;孔径...
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主要技术指标:空隙度:3.5-5000Å,比表面≥0.0005m/g最小可分辨相对压力(P/P0):2.6×10(N) 主要附件及功能:测量固体物质比表面、孔径、孔容 主要应用领...
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主要技术指标:测振频率:1.5MHz测试精度:0.1%扫描点数:512*512主要附件及功能:非接触式高频振动测试和模态分析主要应用领域:机械工程检测项目:机械振动测量与分析、建...
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主要技术指标:技术规格:主机四通道,扩展四通道;与国内电磁源相匹配;与八通道相匹配的高级分析模块;三向传感器 主要附件及功能:功能:爆破产生的振动观测 主要应用...
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主要技术指标:载荷范围:±100KN速度范围:0.05mm/mm应变测量行程:±5mm设备工作空间:800mm 主要应用领域:材料,地质矿产,机械工程 检测项目:材料拉...
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主要技术指标:可测孔径范围为17埃-3000埃。 主要附件及功能:待测样品事先在制备站经加温和真空脱附进行预处理,预处理前后用天平精确称重,得到纯净样品重量。样品完成预处理...
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