能量色散X 射线荧光分析贵金属中主量次量及有害元素
http://www.testrust.com 来源：岛津企业管理（中国）有限公司 时间：2015-01-05
目前贵金属无损检测的国家标准依据为GB/T 18043-2008《首饰贵金属含量的测定X射线荧光光谱法》，提出了贵金属含量使用X射线荧光分析的无损检测方法，比较化学测试方法，X射线荧光分析方法的优点是：无损、快速、相对准确，环保、适用性好。GB11887-2008《首饰贵金属纯度的规定及命名方法》规定Pb、Hg、Cd、As、Cr6+要求小于0.1%，同时提到与人体皮肤接触的首饰有Ni释放量限制的要求等。本文介绍岛津EDX能量色散X射线荧光光谱仪对贵金属中主量、次量、有害元素的分析检测。
更多关于 能量色散 X 射线荧光 贵金属 主量次量及有害元素 的技术资料
免责声明：
1、本网转载作品目的在于传递更多信息，并不代表本网赞同其观点和对其真实性负责。
2、凡来源注明“检测通”的所有作品，版权均属检测通网站，转载使用本作品请注明来源。否则本网有权追究其相关法律责任。
3、如涉及作品内容、版权和其它问题，请在30个工作日内与本网联系，我们将在第一时间处理！
