日立扫描探针显微镜AFM 5100N 简介
http://www.testrust.com 来源：天美（中国）科学仪器有限公司 时间：2014-05-23
扫描探针显微镜(SPM)具有分辨率高、应用范围广、扩展性强等特点，是材料形貌及物性分析的有利工具。日立扫描探针显微镜AFM 5100N继承了传统扫描探针显微镜特点的同时，还具有体积小、易操作、分析模块多、数据可靠等特点，是小型化通用型SPM的代表。
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