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PARAMTM 博每TM CHY-C2 测厚仪

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  • 品  牌:
  • 主要规格:
  • 分辨率0.1um,量程0-2mm
  • 用  途:
  • 适用于塑料薄膜、薄片、隔膜、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度精确测量
    • 适用于塑料薄膜、薄片、隔膜、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度精确测量 微电脑控制、液晶显示 菜单式界面、PVC操作面板 接触式测量(测头自动升降 手动、自动双重测量模式 数据实时显示、自动统计、打印 (自动统计所有测量点的最大值、最小值和平均值,并出具标准方差) 标准接触面积、测量压力(非标可选) (标准规定:测薄膜测头面积为50mm2,压力17.5Kpa;测纸张测头面积为200mm2,压力50Kpa;通过配重可以增加接触压力) 标准量块标定 微型打印机 RS232接口 网络传输接口支持局域网数据集中管理与互联网信息传输

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