检测认证人脉交流通讯录
PARAMTM 博每TM CHY-C2 测厚仪
- 用 途:
- 适用于塑料薄膜、薄片、隔膜、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度精确测量
- 适用于塑料薄膜、薄片、隔膜、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度精确测量
微电脑控制、液晶显示
菜单式界面、PVC操作面板
接触式测量(测头自动升降
手动、自动双重测量模式
数据实时显示、自动统计、打印
(自动统计所有测量点的最大值、最小值和平均值,并出具标准方差)
标准接触面积、测量压力(非标可选)
(标准规定:测薄膜测头面积为50mm2,压力17.5Kpa;测纸张测头面积为200mm2,压力50Kpa;通过配重可以增加接触压力)
标准量块标定
微型打印机
RS232接口
网络传输接口支持局域网数据集中管理与互联网信息传输