CST-50型冲击试样缺口投影仪/夏比投影仪，是根据广大用户的实际需求和GB/T229-94《金属夏比缺口冲击试验方法》中对冲击试样缺口的要求而设计、开发的一种检察夏比V型和U型冲击试样缺口加工质量的专用光学仪器。该仪器是利用光学投影方法将被测的冲击试样V或U型缺口轮廓放大投影到投影屏上，与投影屏上冲击试样V或U型缺口标准样样板图对比，以确定被检测的冲击试样缺口加工是否合格，其优点是操作简便，检查对比真观，效率高。

　　该仪器还可用于机械零件的外形轮廓，防治物纤维，生物切片分析，工量刀具检验，仪表元件和半导体器件的投影检测，操作简便，检查对比直观、效率高；

　　主要参数

　　1.投影屏直径：180mm

　　2.工作台尺寸：

　　方工作台尺寸：110*125mm

　　圆工作台直径：90mm

　　工作台玻璃直径：70mm

　　3.工作台行程：

　　纵向：±10mm

　　横向：±10mm

　　升降:±12mm

　　4.工作台转动范围：0~360º 5.仪器放大倍率：50X

　　物镜放大倍率：2.5X

　　投影物镜放大倍率：20X

　　6.光源(卤钨灯)：12V

　　7.电源：220V 50HZ

　　8.外形尺寸：515*224*603mm

　　9.重量：18kg