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JG-4034薄膜测厚仪

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    • JG-4034薄膜测厚仪 一、 概述 简单介绍: 本测厚仪适用于机械测量法测定塑料薄膜和薄片的厚度(不适用于压花的薄膜和薄片。本测厚仪执行GB6672-86国际并等效符合国际标准ISO4593-1979。 二、主要参数 1. 量程:0-1mm 分度值:0.001mm 2. 上测头曲率半径:15-50mm 3. 测头对试样施加负荷我:0.1-0.5N 4. 测量精度:100vm以内<1vm 100-250vm<2vm 250vm<3vm

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