检测认证人脉交流通讯录
- iEDX-150WT 采用非真空样品腔； 专业用于PCB镀层厚度，金属电镀镀层分析；可同时分析镀层中的合金成分比列。 多镀层，1～4层 测试精度：0.01 um 多次测量重复性误差<0.1％ 元素分析范围从铝(Al)到铀(U) 测量时间：10-60秒 Si-PIN探测器，能量分辨率为149电子伏特 微焦X射线管50KV/1mA，钨靶， 焦斑尺寸 75um, 寿命大于3万小时 7个准直器及6个滤光片自动切换 XYZ三维移动平台，最大荷载为5公斤 高清CCD摄像头，精确监控位置 多变量非线性去卷积曲线拟合 高性能FP/MLSQ分析 平台尺寸 700x580x25 mm 平台移动范围 300(X)x300(Y)x25 (Z)mm
