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供应Elcometer345涂层测厚仪
- 用 途:
- 测量铁基(F)、非铁基(F)或铁基及非铁基(FNF)材料的涂层厚度
- Elcometer345涂层测厚仪为应用非常广泛的仪器。具有整体式与分离式两种形式探头,可测量铁基(F)、非铁基(F)或铁基及非铁基(FNF)材料的涂层厚度,总会有一种仪器满足用户的各种要求。
该仪器按照操作者角度进行设计,使用简单。用户可自定义简单的数据统计,可复查平均值、标准偏差、读数的个数和最大、最小读数。这些统计数据可以打印输出。
• *键盘锁住功能可防止意外事件发生,避免重新校准。
• *mm或um与mils可相互转换
• *整体式仪器采用"大脚"探头,性能更加稳定
• *是平面、曲面和喷砂表面
• *读数率快
• *两点校准
名称 范围 分辨率 精确度* 零件号
μm mils 公制 英制 公制 英制
Elcometer345铁基整体 0-1500 0-60 0-20μm:
0.1μm 0-1mils:
0.01 mils ±1-3%或±2.5μm ±1-3%或±0.1 mils A345FB-I1
Elcometer345铁基分离 0-1500 0-60 A345FB-S1
Elcometer345非铁基整体 0-1500 0-60 0-20μm:
0.1μm 0-1mils:
0.01 mils ±1-3%或±2.5μm ±1-3%或±0.1 mils A345NB-I1
Elcometer345非铁基分离 0-1500 0-60 A345NB-S1
Elcometer345两用FNF整体 0-1500 0-60 0-20μm:
0.1μm 0-1mils:
0.01 mils ±1-3%或±2.5μm ±1-3%或±0.1 mils A345FNFBI1
Elcometer345两用FNF分离 0-1500 0-60 A345FNFBS1
精确度*:按照接近所要求的厚度校准时为±1% ,若无界定范围内的校准,则为±3% 。
FNF专利号 GB 2306009B,USA 5886522