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可焊性试验台

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  • 赛宝
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  • 用  途:
    • 一、 可焊性试验台配置及主要技术规格和要求: 1. 设备名称:KH-548 可焊性试验台 2. 满足试验标准:国军标GJB548B-2005 方法2003.1;国军标GJB360A-1996方法208-3.2 3. 设备用途:适用于DIP、PGA、SOP、BGA、QFP、DFN等各种封装形式的半导体集成电路可焊性试验。 4. 主要技术指标: 外形尺寸:800×600×1200(W×D×H台面高度); 焊锡槽尺寸:200×200×60(W×H×D); 焊剂槽尺寸:200×200×60(W×H×D); 焊锡槽温度:200~360℃可调; 焊锡槽温度偏差:±5℃ ; 熔锡中停顿时间:5~60s可调; 焊剂中停顿时间:5~10s可调; 样品升降速率:5~25mm/s连续可调。 水汽老化装置:水汽温度:93+3-5℃;水汽老化时间:8h可调; 试验用水:蒸馏水或去离子水。 5. 设备参考图(见附图一) 6. 设备功能和配置 设备功能:提供GJB548B-2005 方法2003.1和国军标GJB360A-1996方法208-3.2规定的可焊性试验环境和试验条件。 设备配置 焊锡槽 焊剂槽 水汽老化装置 电气控制系统 安全装置:漏电保护器;超温保护器;温度超限保护器 1套操作维修手册 电话 13631409057
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    兰程

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