检测认证人脉交流通讯录
- ISP iEDX-150T镀层测厚仪;
采用非真空样品腔;
专业用于PCB电镀镀层分析及镀层测厚;
采用多种光谱拟合度镀层分析处理技术;
可同时分析镀层中的合金成分比列。
应用领域
iEDX-150T镀层测厚仪应用于金属电镀镀层分析领域
技术指标
多镀层分析,1~5层
测试精度:0.001 μm
元素分析范围从铝(Al)到铀(U)
测量时间:10~30秒
SDD探测器,能量分辨率为125±5eV
探测器Be窗0.5mil(12.7μm)
微焦X射线管50KV/1mA,钼,铑靶(高配微焦钼靶)
6个准直器及多个滤光片自动切换
XYZ三维移动平台,最大荷载为5公斤
高清CCD摄像头(200万像素),准确监控位置
多变量非线性去卷积曲线拟合
高性能FP/MLSQ分析
仪器尺寸:618×525×490mm
样品台尺寸:250×220mm
样品台移动范围:前后左右各80mm、高度90mm
图谱界面
软件支持无标样分析
宽大分析平台和样品腔
集成了镀层界面和合金成分分析界面
采用多种光谱拟合分析处理技术
镀层测厚分析精度可达到0.001μm
分析报告结果
直接打印分析报告
报告可转换为PDF,EXCEL格式
善时仪器
韩先生
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