元素分析仪|X荧光镀层测厚|镀层测厚仪
X荧光镀层测厚仪及痕量元素分析仪X-Strata980用途：
   X荧光镀层测厚及痕量元素分析仪用来测试元素的含量或镀层的厚度，可分析的元素范围众原子序数16位（S）至92位（U）;进行元素成分分析时，仪器可同步分析25种不同元素的含量。可同时分析5种镀层（基材及4种镀层）/15种元素/含常规元素的修正功能。由ISO3497 ASTM B568和DIN 50987所认证的进行镀层厚度测试的方法。
 
X荧光镀层测厚仪及痕量元素分析仪X-Strata980特征：
1、专业设计的RoHS分析界面，检测结果一目了然。
2、强大的数据传输功能（选件）
3、扫描分析及映 射成像功能（选件）
4、程控台（选 件）
5、可变聚焦距离
6、超大样品仓
7、PC与机品的一体化设计
8、电制冷PIN探测器，提高测量分辨率
9、行业领先的100瓦X射线管
10、5个初级滤 波器，提升信噪比，改善激发效率。
11、多准直器配置，满足不同大小PAD位测量。
12、AITi样品底座，大幅降低背景噪音，提高RoHS元素的检测下限。
13、方便易用的经验系数法校准软件
14、改进的基本参数法模型。
15、提供经验系数及基本参数的组合分析模型。
16、用户操作界 面包含9种语言，使用方便