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光学薄膜与材料研究室

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提供傅里叶变换红外光谱仪测量

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    • 傅里叶变换红外光谱仪 仪器英文名称:Fourier transform infrared spectroscopy 主要技术指标: 光谱测量范围:7800 ~ 230 cm-1(1.5 ~ 50µm); 光谱仪分辨率: 优于0.16 cm-1; 微区测量: 定位精度0.1µm,可测6.6 µm大小样品透射谱; 全自动样品台:自动调整光阑,自动聚焦,可微区全自动测量; 辐射测量: 可测常温红外到400度变温发射率; 低温测量温度: 10K到室温,±0.2K可控。 主要附件: 光谱仪主机、低温测量、红外显微镜、绝对反射率测量 功能/应用范围: 光学薄膜材料、半导体材料、体材料 技术特色: 该光谱仪器具有宽光谱范围,红外测量区域可达50微米,具有绝对反射和透射测量附件,能够进行微区测量,可以在低温条件下进行样品的反射率和透射率测量。 收费:来电询
    光学薄膜与材料研究室

    周明

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