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XRF-2020L镀层测厚仪

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    • 一、XRF-2020L镀层测厚仪韩国微先锋膜厚仪检测范围:   1、测量:各类五金,电子连接器端子半导体等电镀层厚度。   2、可测:金,镍,铜,锌,锡,银,铬,铑,铂,锌镍合金等镀层。   3、可测:单镀层,双镀层,多镀层,合金镀层等。   4、适应:电镀生产企业,产品来料检测半导体五金电镀等相关行业。   5、可测:单镀层,双多镀层,多镀层及合金镀层   (1)镀银测量范围0.1-50um   (2)镀镍测量范围0.5-30um   (3)镀铜测量范围0.5-30um   (4)镀锡测量范围0.5-50um   (5)镀金测量范围0.02-6um   (6)镀锌测量范围1-30um   (7)锌镍合金测量范围1-25um   (8)镀铬测量范围0.5-25um   6、仪器全自动台面,自动雷射对焦,多点自动测量   7、多个准直器可选择:0.1mm,0.2mm,0.3mm,0.4mm,0.03×0.5mm   8、可配多个或单个准直器,准直器大小可自动切换   二、韩国先锋XRF-2020L型H型功能特点:   1、全自动台面,自动雷射对焦,多点自动测量;   2、仪器全系均为全自动台,自动雷射对焦;   3、多点自动测量;   4、可配多个或单个准直器,准直器大小可自动切换;   5、快速无损测量电镀层厚度,可测单镀层,双镀层,多层镀层及合金镀层。   https://www.chem17.com/st420157/product_38682795.html   http://www.micropioneer.com.cn/Products-38682795.html

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