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- 三箱温度冲击试验箱特点：
1．采用进口LCD中英文显示触摸式温湿度控制器，操作简单，程式编辑容易。
2．可显示完整的系统操作状况相关资料、设定程式曲线、开机注意事项、机器维护保养方法。
3.运转中发生异常状况，萤幕上即刻自动显示故障原因并提供排除故障方法。
4.采用多巽式送风机送风循环，温度分布均匀。
5．可加装记录器，将温湿度曲线记录。
6．附R232接口，可电脑连接操作。
三箱温度冲击试验箱满足的试验方法有：GB/T2423.22-1989温度变化试验；GB/T2423.2-1989高温试验方法；GB/T2423.1-1989低温试验方法；GJB360.7-87温度冲击试验；GJB150.5-86温度冲击试验；IEC68-2-14_试验方法N_温度变化；GJB367.2-87405温度冲击试验；GB/T2423.22-2002温度变化；GB/T2424.13-2002试验方法温度变化试验导则；EIA364-32热冲击（温度循环）测试程序的电连接器和插座的环境影响评估等等。
内尺寸可选择：宽36*高35*深40cm；二：宽50*高40*深40cm；三：宽60*高50*深50cm；四：宽70*高60*深60cm；五：宽100*高100*深100cm。
温度范围（范围内任选）可以选择，A：-40℃~150℃；B：-55℃~150℃；-65℃~150℃，高温影响价格不大，所以般默认为150度限高温。
温度转换时间:10秒以内,温度冲击恢复时间：≤5min。
温度波动度：±0.5℃;温度偏差：±2℃
三箱温度冲击试验箱用途：
该产品适用于电子元器件的安性能测试提供可靠性试验、产品筛选试验等，同时通过此装备试验，可提高产品的可靠性和进行产品的质量控制。
二箱式：上部为高温箱，下部为低温箱，两箱之间由样品架连结，经气动系统在两箱间切换。
三箱式：该冲击试验箱为待测品静置之冷热交替冲击方式，广泛使用于电子零组件测试，半导体，电子线路板，金属化学，材料等测试设备。试验箱下部为低温蓄冷区，上部为高温蓄热区，试件（待测品）放置在试验箱中部，高温冲击时，上风门打开，形成高温内循环。低温冲击时，上风门关闭，下风门打开，形成低温内循环。该冲击试验箱的特点是：试件（待测品）静止不动，使用户避免了因试件移动带来的诸多不便。
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