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- 北京博奥聚合梅特勒微量分析天平
梅特勒微量分析天平XPR205D5/AC具有很好的称量准确度和2微克可读性，是高难度称量应用(例如：称量微小样品)的正确选择。节省时间、成本与材料。
由于配有StatusLight状态指示灯、LevelControl与Z小称量值警告功能等一系列的质量保证功能，因此可确保您快速获得关于天平状态的信息。这有助于快速采取纠正措施和确保称量流程合规。
优化分析工作流程的效率
由于提供多种连接选件(USB、Ethernet)，因此可通过数字方式将称量结果传送至现有的信息系统。可通过方法库定制称量应用和快速访问工作流。
梅特勒微量分析天平XPR205D5/AC产品特点：
1、内置静电检测传感器
为确保较高过程安全性，创新型StaticDetect静电检测可检测样品和/或其容器上的静电电荷。天平可测量称量误差以及在超出用户设定限值时发出警告。
2、一体式与独立式防静电套件
可将新的去静电装置模块轻松安装在称量室内。与StaticDetect同步操作去静电装置可自动去除正在称量物体上的静电电荷。此外还提供独立式去静电装置。
3、易巧称量件容器支架
易巧称量件不仅可轻松地在特殊形状容器内直接加样，金属结构还可起到法拉第笼的作用，可防止天平上产生样品或容器上出现的任何静电电荷。安全可靠地在玻璃或塑料容器内加样。
梅特勒微量分析天平
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