检测认证人脉交流通讯录
- 全自动扫描电镜主要用于杂质或颗粒物的综合评估，可以自动获取大量颗粒的微观形貌 和成分信息，具体包括：
颗粒粒度分布
颗粒形貌分析
杂质成分检测
高分辨率成像（8 nm 分辨率）
ParticleX 以扫描电镜和能谱仪为基础，结合自动控制系统以及强大的数据库系 统，可以全自动对杂质颗粒进行快速识别、分析和分类统计，为客户的研发以及生产提供快速、准确和可靠的定量数据支持。
Phenom XL.jpg
ParticleX 全自动颗粒分析系统
产品参数
电子显微镜：200,000 倍
探测器：高灵敏度四分割背散射电子探测器
灯丝材料：1,500 小时 CeB6 灯丝
分辨率：优于 10 nm
放置环境：采用专业防震设计，可摆放于普通实验室或办公室、厂房
加速电压：4.8kV-20.5kV 连续可调
抽真空时间：小于 30 秒
能谱仪：可选配能谱仪
· 全自动锂电正负极杂质分析
ParticleX 可以全自动对正负极中的铁类杂质颗粒进行快速识别、分析和分类统计， 整个过程无需人工参与。定量磁性杂质颗粒的形态、数量和种类，以此判定是哪个生产环节出了问题。
· 全自动钢铁夹杂物分析
ParticleX 为钢铁中夹杂物的分析提供了便捷、高效、可重现的分析工具。为钢铁材料的研发、生产、质量控制与评级提供了便利。
产品来源：
http://www.desktopsem.com/Products-26538793.html
https://www.chem17.com/st232783/product_36743914.html
