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CH-A塑料薄膜厚度仪 薄膜测厚仪
- 用 途:
- CH-A数显台式数显测厚仪是用机械测量法测定,适用于实验室对塑料薄膜和薄片试样厚度的测量
- CH-A数显台式薄膜厚度仪产品介绍
CH-A数显台式数显测厚仪是用机械测量法测定,适用于实验室对塑料薄膜和薄片试样厚度的测量,但不是用于压花的薄膜和薄片。
CH-A数显台式薄膜厚度仪产品特点
1、结构科学合理,使用安全可靠
2、数字显示,直接读取测量结果
3、测量范围广,精度高
CH-A数显台式薄膜厚度仪产品应用
仪器主要用于塑料薄膜、薄片、纸张、纸板的厚度测试,还可扩展用于箔片、硅片、金属片的厚度测试
CH-A数显台式薄膜厚度仪技术标准
GB/T6672-2001《塑料薄膜和薄片厚度的测定—机械测量法》
ISO4593—1993《塑料—薄膜和薄片—用机械扫描法测定厚度》
CH-A数显台式薄膜厚度仪产品参数
1、测量范围:0~1mm
2、分辨率:0.001mm
3、测试面积:50 mm²
4、测头端部的力:
(1)上测头的测量面为¢6mm平面,下测头为平面时,测头对试样施加的力为0.5~1.0N;
(2)上测量面为(R15—R50)mm曲率半径,下测头为平面时,测头对试样施加的力为0.1~0.5N,相当于10.2gf-51gf
仪器正常工作的环境条件
1、室温:20℃±10℃。
2、工作环境清洁,无灰尘、油污和震动源,工作台平整稳固。
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