徕卡 DM12000M大型半导体检查显微镜产品特点： 用于12”精密的观察和复检系统 Leica DM12000 M 徕卡DM12000M全新的光学设计,可以提供宏观模式快速初检,以及倾斜紫外光路功能(OUV, 倾斜紫外观察模式) 不单提升了分辨率还提高了检查12英寸(300毫米)硅片的产能。 该机照明 基于最新的 LED 科技 ，一体化整合在显微镜机身上。 低热辐射效应和一体化内置技术确保了显微镜四周空间具有 理想化的空气环流。 LED的超长使用寿命和低能耗特性大大降低了用户 今后的使用成本.。 只要一指按键 您就可以切换放大倍率, 照明模式或相衬模式。

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