检测认证人脉交流通讯录
销售,上海,X射线能谱仪检测,服务,直销,聚仪网供
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销售,上海,X射线能谱仪检测,服务,直销,聚仪网供
仪器名称： X射线光电子能谱仪
仪器型号：AXIS UltraDLD
仪器缩写：XPS
生产厂家：日本岛津-Kratos 公司
关键词：XPS，XPS深度剖析，元素分析，表面化学分析，半定量，元素价态，元素深度分布
仪器简介：
AXIS Ultra DLD（日本岛津Kratos公司）多功能X射线光电子能谱仪可以提供有关固体表面和界面的化学信息。可以分析除氢、氦以外的所有元素，包括元素种类及价态。并可以提供测定元素相对含量的半定量分析。
广泛应用于研究聚合物、无机化合物、有机化合物、催化剂、涂层材料、纳米材料、矿石等各种材料。结合其它表征技术，可以对腐蚀、摩擦、润滑、燃烧、粘接、催化、包覆、氧化等过程进行研究。
相当有有特色的是XPS可以测定元素的化学价态及化学环境的影响。
通过角分辨法及Ar离子剥离法可以提供元素深度分布信息。
主要用于固体样品表面的组成，能进行定性、半定量分析。
主要特点：
高能量分辨率
高检测灵敏度
谱图快照（Snapshot）功能
对同一个样品进行多功能检测
检测项目：
1、XPS谱图测试：
对样品表面进行全谱和指定元素的窄谱扫描。数据处理后，可进行材料的表面元素或其价态的定性和定量分析。
可以使用Ar离子对样品表面进行轰击清洁（除去空气中的碳污染），或进行刻蚀。Ar离子轰击时间可以根据需要设定，轰击后再收谱。
2、XPS成像测试：
在样品表面选择特定的区域并对该区域进行成像扫描。可以得到元素在X-Y平面上的空间分布图像。
3、XPS 深度剖析测试：
Ar离子刻蚀与元素窄扫描交替进行。可以得到元素含量与轰击时间或深度的关系曲线。
4、UPS测试
测试样品的价带谱图或功函数。
来样须知：
1，不能被测试的样品种类：放射性的样品、具有磁性的样品（不带磁性的磁性粉末材料不可以被分析测试，不带磁性的磁性片状材料可以被分析测试或去磁后的磁性片状样品可以测试，但必须说明该样品容易被磁化）。真空中会释放大量气体、尤其释放的气体对不锈钢具有腐蚀性的样品，比如可以释放出HCl+H2O,有化学毒性和生物毒性的样品。在X光照射下会分解的样品也不能进行测试。
2，样品物性/外形/尺寸
导体、半导体和绝缘体均可以。对绝缘体只适合粉末、薄膜、薄片，不适合块体。
半导体和绝缘体片状样品：厚度1毫米以内。
导体片状样品：厚度小于3mm； 长X 宽的尺度范围：~6mmX6mm 到10mm X10mm以内；
粉末样品：原则上越细越好。
对于块状（不规则形状时）样品，需要送样人将样品加工成片状，上下两面比较好互为平行面。
特殊样品形状：纤维、大颗粒、小圆棒（尺寸大小在微米到几个毫米之间）。
3，样品用量：
粉末、大颗粒、小圆棒：体积大于0.2ml；如果需要压片时（有利于做定量分析），送样量(体积)应适当增加到0.75-1ml。
薄膜、片状、块体：长X 宽尺寸在~6mmX6mm到10mm X10mm以内；厚度不大于3mm。
4，送样时注意事项
（1），样品中不得含有乙酸乙酯、氯仿、二氯甲烷、苯、环己烷、DMSO等有机试剂, 待测试的样品表面不能被沾污（如手摸拿，碰触污染物等）；
（2），易被氧化或易吸水样品，在送样过程中应注意隔离空气；
（3），比较好用带盖的玻璃小试管、小容量瓶等容器装样；比较好不要直接使用塑料容器、塑料袋、含硅的胶带或胶面和纸袋，以免硅树脂或纤维污染样品表面；
（4），如为挥发性高分子样品或具挥发性覆膜，务必先自行在真空高温炉中抽除挥发性分子；如果样品置入真空腔后，隔夜无法抽至5X10E-7 torr以下，测试将被取消；
（5），易被氧化和易发生吸附的样品，在送样过程中应注意隔离空气（如放保干器等），或事先与我们联系，商量解决办法。分析进行时，常视初始实验情况决定分析条件，送样者若能到场，可能有助于分析的进行。
（6），对薄膜、片状、块体样品标记出测试面；样品袋上请标上送样人姓名；
（7），写明分析测试的要求，如定性（成份，价态等），定量（样品中元素成分比），送样联系人信息等。如果样品有易磁化，易变性（如被氧化，吸附等）等情况应说明清楚。
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