检测认证人脉交流通讯录
设备校准,检定服务
这真不是您需要的服务？
-
对应法规：设备校准,检定服务
CNAS认可项目：是
DESCRIPTION TESTTYPE PRICE_UNIT PRECISION GRADE RANGE CERTIFICATION 光学分度台 V 台 分度值≤0.5 分度值> 0.5 / 0°〜 360° JJF1114-2004 光学、数显分度台校准规范 光学分度头 V 台 分度值≤0.1分度值>0.1〜 5分度值>5 / 0°〜 360° JJG57-1999光学、数显分度头检定规程 光学计 C 台 1μm / (0〜250)mm JJG45-1999光学计检定规程 光学计 V 台 1μm / (0〜250)mm JJG45-1999光学计检定规程 光学经纬仪 C 台 DJ07、DJ1 T3 (0~360)° JJG414-2011光学经纬仪检定规程 光学经纬仪 GB/T 3161-2003 光学经纬仪 C 台 DJ2 DJ2、TDJ2、T2、 (0~360)° JJG414-2011光学经纬仪检定规程 光学经纬仪 GB/T 3161-2003 光学经纬仪 C 台 DJ6、DJ30 TDJ6、DJ6、TE6、T6 (0~360)° JJG414-2011光学经纬仪检定规程 光学经纬仪 GB/T 3161-2003 光学经纬仪 V 台 DJ07、DJ1 T3 (0~360)° JJG414-2011光学经纬仪检定规程 光学经纬仪 GB/T 3161-2003 光学经纬仪 V 台 DJ2 DJ2、TDJ2、T2 (0~360)° JJG414-2011光学经纬仪检定规程 光学经纬仪 GB/T 3161-2003 光学经纬仪 V 台 DJ6、DJ30 TDJ6、DJ6、TE6、T6 (0~360)° JJG414-2011光学经纬仪检定规程 光学经纬仪 GB/T 3161-2003 光学倾斜仪 C 台 分度值≤0.2 / 0°〜 360° JJF1083-2002光学倾斜仪校准规范 焊接检验尺 V 支 ±0.20mm / (0〜45)mm 合像水平仪 C 台 ±0.02mm/m / 0.01mm/m 合像水平仪 V 台 ±0.02mm/m / 0.01mm/m 螺纹环规 V 只 二等 / Φ(3〜50)mm 螺纹环规 V 只 / / ≤Φ50mm 螺纹环规 V 只 / / >Φ(50〜150)mm 机械分度头 C 台 / / 0°〜 360° GB/T 2554-2008 机械分度头 机械式比较仪 V 台 ±(0.8〜2)μm / ±50μm 激光平面干涉仪 C 台 0.02μm / (0〜150)mm GJB/J 6221-2008 数字式激光平面干涉仪校准规范 建筑工程质量检测器组 C 套 / / / 角度规 C 支 ±(2′〜5′) / 0°〜320° 角度规 V 支 ±(2′〜5′) / 0°〜360° 角度块 C 角 0级，1级，2级 单块 0°〜 360° JJG70-2004角度块检定规程 角度块 Q 角 0级,1级 / 0°〜 360° JJG70-2004角度块检定规程 角度块 Q 角 2级 / 0°〜 360° JJG70-2004角度块检定规程 角度块 V 角 0级，1级，2级 单块 0°〜 360° JJG70-2004角度块检定规程 数显分度台 V 台 分度值≤0.5 / 0°〜 360° JJF1114-2004 光学、数显分度台校准规范 数显分度台 V 台 分度值> 0.5 / 0°〜 360° JJF1114-2004 光学、数显分度台校准规范 数显分度头 V 台 分度值≤0.1 分度值>5 / 0°〜 360° JJG57-1999光学、数显分度头检定规程 数显千分表 C 只 / / (0〜10)mm 数显式指示表检定仪 V 台 ±2μm / (0〜25)mm 水平尺 C 支 (2〜100)μm / (0〜400)mm 水平尺 C 支 (2〜100)μm / (400〜1000)mm 研磨面平尺 C 支 0.4μm / ≤300mm JJG740-2005研磨面平尺检定规程 研磨面平尺 C 支 0.6μm / >(300〜500)mm JJG740-2005研磨面平尺检定规程 研磨面平尺 Q 支 ≤ 0.4μm / ≤ 300mm JJG740-2005研磨面平尺检定规程 研磨面平尺 V 支 0.4μm / ≤300mm JJG740-2005研磨面平尺检定规程 研磨面平尺 V 支 0.6μm / >(300〜500)mm JJG740-2005研磨面平尺检定规程 英制量块 C 块 / / (0.5〜100)mm JJG146-2011量块检定规程 游标卡尺 C 支 / / ≤150mm 数显游标卡尺 C 支 / / ≤150mm 游标卡尺 C 支 / / >(150〜300)mm 数显游标卡尺 C 支 / / >(150〜300)mm 游标卡尺 C 支 / / >(300〜500)mm 数显游标卡尺 C 支 / / >(300〜500)mm 游标卡尺 C 支 / / >(500〜1000)mm 数显游标卡尺 C 支 / / >(500〜1000)mm 游标卡尺 V 支 / / ≤150mm 数显游标卡尺 V 支 / / ≤150mm 游标卡尺 V 支 / / >(150〜300)mm 数显游标卡尺 V 支 / / >(150〜300)mm 游标卡尺 V 支 / / >(300〜500)mm 数显游标卡尺 V 支 / / >(300〜500)mm 游标卡尺 V 支 / / >(500〜1000)mm 数显游标卡尺 V 支 / / >(500〜1000)mm 游标卡尺 V 支 / / >(1000〜2000)mm 数显游标卡尺 V 支 / / >(1000〜2000)mm 游标塞尺 C 件 / / / 圆度测量仪 C 台 ±2% / (0〜1000)mm JJG429-2000圆度圆柱度测量仪检定规程 圆柱度测量仪 C 台 ±2% / (0〜1000)mm JJG429-2000圆度圆柱度测量仪检定规程 圆度测量仪 C 台 ±5% / (0〜1000)mm JJG429-2000圆度圆柱度测量仪检定规程 量块 V 套 二等 38块组 （1〜100）mm JJG146-2011量块检定规程 量块 V 套 三等 38块组 （1〜100）mm JJG146-2011量块检定规程 量块 V 套 四等 38块组 （1〜100）mm JJG146-2011量块检定规程 量块 V 套 五等 38块组 （1〜100）mm JJG146-2011量块检定规程 量块 V 套 二等 42块组 （1〜100）mm JJG146-2011量块检定规程 量块 V 套 三等 42块组 （1〜100）mm JJG146-2011量块检定规程 量块 V 套 四等 42块组 （1〜100）mm JJG146-2011量块检定规程 量块 V 套 五等 42块组 （1〜100）mm JJG146-2011量块检定规程 量块 V 套 二等 46块组 （1〜100）mm JJG146-2011量块检定规程 量块 V 套 三等 46块组 （1〜100）mm JJG146-2011量块检定规程 量块 V 套 四等 46块组 （1〜100）mm JJG146-2011量块检定规程 量块 V 套 五等 46块组 （1〜100）mm JJG146-2011量块检定规程 量块 V 套 二等 47块组 （1〜100）mm JJG146-2011量块检定规程 量块 V 套 三等 47块组 （1〜100）mm JJG146-2011量块检定规程 量块 V 套 四等 47块组 （1〜100）mm JJG146-2011量块检定规程 量块 V 套 五等 47块组 （1〜100）mm JJG146-2011量块检定规程 量块 V 套 二等 32块组 （1〜60）mm JJG146-2011量块检定规程 量块 V 套 三等 32块组 （1〜60）mm JJG146-2011量块检定规程 量块 V 套 四等 32块组 （1〜60）mm JJG146-2011量块检定规程 量块 V 套 五等 32块组 （1〜60）mm JJG146-2011量块检定规程 量块 V 套 二等 10块组 （1〜1.009）mm JJG146-2011量块检定规程 量块 V 套 三等 10块组 （1〜1.009）mm JJG146-2011量块检定规程 量块 V 套 四等 10块组 （1〜1.009）mm JJG146-2011量块检定规程 量块 V 套 五等 10块组 （1〜1.009）mm JJG146-2011量块检定规程 量块 V 套 二等 10块组 （0.991〜1）mm JJG146-2011量块检定规程 量块 V 套 三等 10块组 （0.991〜1）mm JJG146-2011量块检定规程 量块 V 套 四等 10块组 （0.991〜1）mm JJG146-2011量块检定规程 量块 V 套 五等 10块组 （0.991〜1）mm JJG146-2011量块检定规程 量块 V 套 二等 10块组 （2.5〜25）mm JJG146-2011量块检定规程 量块 V 套 三等 10块组 （2.5〜25）mm JJG146-2011量块检定规程 量块 V 套 四等 10块组 （2.5〜25）mm JJG146-2011量块检定规程 量块 V 套 五等 10块组 （2.5〜25）mm JJG146-2011量块检定规程 量块 V 套 五等 112块组 （0.5〜100）mm JJG146-2011量块检定规程 量块 V 套 三等 8块组 （125〜500）mm JJG146-2011量块检定规程 量块 V 套 四等 8块组 （125〜500）mm JJG146-2011量块检定规程 量块 V 套 五等 8块组 （125〜500）mm JJG146-2011量块检定规程 量块 V 套 三等 10块组 （50〜500）mm JJG146-2011量块检定规程 量块 V 套 四等 10块组 （50〜500）mm JJG146-2011量块检定规程 量块 V 套 五等 10块组 （50〜500）mm JJG146-2011量块检定规程 量块 V 套 三等 5块组 （600〜1000）mm JJG146-2011量块检定规程 量块 V 套 四等 5块组 （600〜1000）mm JJG146-2011量块检定规程 量块 V 套 五等 5块组 （600〜1000）mm JJG146-2011量块检定规程 量块 V 套 三等 10块组 （100〜1000）mm JJG146-2011量块检定规程 量块 V 套 四等 10块组 （100〜1000）mm JJG146-2011量块检定规程 量块 V 套 五等 10块组 （100〜1000）mm JJG146-2011量块检定规程 量块 V 套 三等 11块组 （50〜1000）mm JJG146-2011量块检定规程 量块 V 套 四等 11块组 （50〜1000）mm JJG146-2011量块检定规程 量块 V 套 五等 11块组 （50〜1000）mm JJG146-2011量块检定规程 量块 V 套 三等 12块组 （50〜1000）mm JJG146-2011量块检定规程 量块 V 套 四等 12块组 （50〜1000）mm JJG146-2011量块检定规程 量块 V 套 五等 12块组 （50〜1000）mm JJG146-2011量块检定规程 量块 V 套 三等 12块组 （30〜1000）mm JJG146-2011量块检定规程 量块 V 套 四等 12块组 （30〜1000）mm JJG146-2011量块检定规程 量块 V 套 五等 12块组 （30〜1000）mm JJG146-2011量块检定规程 量块 V 套 四等 12块组 （10〜291.8）mm JJG146-2011量块检定规程 量块 V 套 五等 12块组 （10〜291.8）mm JJG146-2011量块检定规程 量块 V 套 五等 6块组 （10〜121.8）mm JJG146-2011量块检定规程 量块 V 套 五等 7块组 （10〜121.8）mm JJG146-2011量块检定规程 量块 V 套 五等 7块组 （10〜121.9）mm JJG146-2011量块检定规程 标准金属线纹尺 V 支 二等 / (0〜1000)mm JJG73-2005高等别线纹尺检定规程 标准金属线纹尺 V 支 三等 / (0〜1000)mm 平面平晶 C 块 二等 / D:150mm JJG28-2000平晶检定规程 平面平晶 V 块 二等 / D:150mm JJG28-2000平晶检定规程 标准筛网 T 只 / / 参照GB/T726-1997 未定 表面粗糙度比较样块 C 块 29% / Ra:(0.01〜80)μm JJF1099-2003表面粗糙度比较样块校准规范 表式测厚仪 C 只 / / (0〜10)mm JJG34-2008指示表（指示表和千分表）检定规程JJG379-2009大量程百分表检定规程 测长机 C 台 ±(0.5+L/100)μm / (0〜1000)mm JJF1066-2000 测长机校准规范 测长机 C 台 ±(0.5+L/100)μm / (0〜3000)mm JJF1066-2000 测长机校准规范 测长仪 C 台 ±(1+L/200)μm / (0〜200)mm JJF1189-2008 测长仪校准规范 大量程百分表 V 只 0级,1级 / (10〜20)mm 大量程百分表 V 只 0级,1级 / (20〜40)mm 大量程百分表 V 只 0级,1级 / >40mm 大型工具显微镜 C 台 ±(1+L/100)μm / (0〜100)mm JJG56-2000工具显微镜检定规程 大型工具显微镜 V 台 ±(1+L/100)μm / (0〜100)mm JJG56-2000工具显微镜检定规程 带表卡尺 C 支 ±(0.04〜0.10)mm / (0〜300)mm 带表卡尺 V 支 ±(0.04〜0.10)mm / (0〜300)mm 带表千分尺 C 支 ±3μm / (0〜100)mm 带表千分尺 V 支 ±3μm / (0〜100)mm 带锤钢卷尺 Q 支/5m I级 / 0 〜 200m 带锤钢卷尺 Q 支/5m II级 / 0 〜 200m 刀口型直角尺 C 支 / / <300mm 刀口型直角尺 C 支 / / >300mm 刀口形直尺 C 支 ±(0.5〜3.0)μm / ≤175mm 二等标准铂电阻温度计 V 支 二等 / (-189.3442〜0.01)℃ 二等标准电离真空计 C 台 ±10% / (10-1〜10-4)Pa 二等标准电离真空计 V 台 ±10% / (10-1〜10-4)Pa 二等标准活塞式压力计 C 台 ±0.05% / (0.04〜0.6)MPa 二等标准活塞式压力计 C 台 ±0.05% / (0.1〜6)MPa 二等标准活塞式压力计 C 台 ±0.05% / (1〜60)MPa 二等标准活塞式压力计 C 台 ±0.05% / (5〜250)MPa 二等标准活塞式压力计 V 台 ±0.05% / (0.04〜0.6)MPa 二等标准活塞式压力计 V 台 ±0.05% / (0.1〜6)MPa 二等标准活塞式压力计 V 台 ±0.05% / (1〜60)MPa 二等标准活塞式压力计 V 台 ±0.05% / (5〜250)MPa 二等标准水银温度计 C 支 二等 / (-60〜0)℃ 二等标准水银温度计 C 套 二等 1套7支 (-30〜300)℃ 二等标准水银温度计 C 支 二等 / (-30〜20)℃ 二等标准水银温度计 C 支 二等 / (0〜50)℃ 二等标准水银温度计 C 支 二等 / (50〜300)℃ 二等标准水银温度计 V 支 二等 / (-30〜20)℃ 二等标准水银温度计 V 支 二等 / (0〜50)℃ 二等标准水银温度计 V 支 二等 / (50〜300)℃ 二等标准水银温度计 V 套 二等 1套7支 (-30〜300)℃ 二等单活塞式压力真空计 C 台 ±0.05% / (-0.1〜0.25)MPa 二等单活塞式压力真空计 V 台 ±0.05% / (-0.1〜0.25)MPa 二等双活塞式压力真空计 C 台 ±0.05% / (-0.1〜0.25)MPa 二等双活塞式压力真空计 V 台 ±0.05% / (-0.1〜0.25)MPa 二等体温计 C 支 0.02℃ / (35〜45)℃ 二等体温计 V 支 0.02℃ / (35〜45)℃ 二级标准湿度发生器 Q 台 ±2%RH / (10 〜 95)%RH 分流式湿度发生器 V 台 ±2%RH二级 / (10〜95)%RH 浮球压力计(空气天平) C 台 0.025级以下 / 2MPa以下 浮球压力计(空气天平) C 台 0.025级以下 / 2MPa及以上 浮球压力计(空气天平) C 台 0.01级及以下 / 2MPa以下 浮球压力计(空气天平) C 台 0.01级及以下 / 2MPa及以上 辐射感温器 C 台 / / 400〜2000℃ 复合真空计(电离+热传导) C 台 ±50% / (10-5〜102)Pa 干湿球测湿计 C 台 ±5%RH,±(1〜3)℃ / (10〜95)%RH，(0〜150)℃ 干燥机,管道,空间及设备露点参数测试 C 台 ±(2〜5)%RH,±(0.2〜1)℃ / (10〜95)%RH，(5〜50)℃ 高低温交变湿热箱 T 台 / / (-75〜200)℃，(10〜100)%RH 高低温试验箱 T 台 / / (-75〜200)℃ 高低温室 T 台 ±0.3℃ / (-75〜200)℃ 高精度实验室温度计 Q 点 0.1,0.2分度 / (-60 〜 600)℃ 高精密玻璃水银温度计 C 支 (0.005〜0.15)℃ / (0〜150)℃ 高精密玻璃水银温度计 V 支 (0.005〜0.15)℃ / (0〜150)℃ 高精密温度计 C 支 ±0.10℃及以下 / (0〜150)℃ 高精密温度计 V 支 ±0.10℃及以下 / (0〜150)℃ 高温试验箱 T 台 / / 室温〜200℃ 高温室 T 台 ±0.3℃ / 室温〜200℃ 工业铂,铜热电阻 C 支 A级（四线制） / (-200〜420)℃ 工业铂,铜热电阻 C 支 A级（三线制） / (-200〜420)℃ 工业铂,铜热电阻 C 支 B级（四线制） / (-200〜420)℃ 工业铂,铜热电阻 C 支 B级（三线制） / (-200〜420)℃ 工业铂,铜热电阻 V 支 A级（三线制） / (-200〜420)℃ 工业铂,铜热电阻 V 支 A级（四线制） / (-200〜420)℃ 工业铂,铜热电阻 V 支 B级（三线制） / (-200〜420)℃ 工业铂,铜热电阻 V 支 B级（四线制） / (-200〜420)℃ 工业退火炉 T 台 / / (300〜1500)℃ 工作铂铑10-铂热电偶 Q 支 Ⅰ级 / 0 〜 1600℃ 工作铂铑10-铂热电偶 Q 支 Ⅱ级 / 0 〜 1600℃ 工作用玻璃液体温度计 C 支 最小分度值0.1℃ / (-60〜300)℃ 工作用玻璃液体温度计 C 支 ±0.2℃ / (-80〜300)℃ 工作用玻璃液体温度计 V 支 最小分度值0.1℃ / (-60〜300)℃ 工作用玻璃液体温度计 V 支 ±0.2℃ / (-80〜300)℃ 工作用玻璃液体温度计 V 支 最小分度值1℃以下 / (-60〜300)℃ 工作用铂铑30-铂铑6热电偶 C 支 Ⅱ级 / (1100〜1500)℃ 工作用铂铑30-铂铑6热电偶 C 支 Ⅲ级 / (1100〜1500)℃ 工作用铂铑30-铂铑6热电偶 V 支 Ⅱ级 / (1100〜1500)℃ 工作用铂铑30-铂铑6热电偶 V 支 Ⅲ级 / (1100〜1500)℃ 工作用辐射温度计(红外测温仪) C 台 0.5级及以下 / (50〜550)℃ 工作用辐射温度计(红外测温仪) C 台 0.5级及以下 / (550〜1500)℃ 工作用辐射温度计(红外测温仪) C 台 0.5级及以下 / (800〜2000)℃ 工作用辐射温度计(红外测温仪) V 台 0.5级及以下 / (50〜550)℃ 工作用辐射温度计(红外测温仪) V 台 0.5级及以下 / (550〜1500)℃ 工作用廉金属热电偶 C 支 I级,II级 / (-80〜300)℃ 工作用廉金属热电偶 C 支 I级 / (300〜1100)℃ 工作用液体压力计 C 台 1级及以下 / (-0.1〜0.25)MPa 工作用液体压力计 C 台 1级及以下 / (-10〜250)kPa 工作用液体压力计 V 台 1级及以下 / (-0.1〜0.25)MPa 工作用液体压力计 V 台 1级及以下 / (-10〜250)kPa 管式电阻炉 T 台 / / (300〜1500)℃ 贵金属热电偶校验炉 T 台 / / (300〜1500)℃ 量块 V 套 五等 8块组 （10〜121.9）mm JJG146-2011量块检定规程 量块 V 套 五等 7块组 （10〜149.9）mm JJG146-2011量块检定规程 量块 V 套 五等 8块组 （10〜149.9）mm JJG146-2011量块检定规程 量块 V 套 五等 6块组 （10〜191.8）mm JJG146-2011量块检定规程 量块 V 套 五等 8块组 （10〜199.8）mm JJG146-2011量块检定规程 量块 V 套 五等 6块组 （41.2〜291.4）mm JJG146-2011量块检定规程 量块 V 套 五等 6块组 （41.2〜291.8）mm JJG146-2011量块检定规程 量块 V 套 五等 6块组 （51.2〜291.8）mm JJG146-2011量块检定规程 量油尺 C 支 2级 / (0〜5)m 量油尺 V 支 2级 / (0〜5)m 螺纹环规 C 只 / / ≤M50mm 螺纹环规 C 只 / / >M(50〜150)mm 螺纹环规 V 只 / / ≤M50mm 螺纹塞规 C 支 / / ≤M50mm 螺纹塞规 C 头 / / >M(50〜150)mm 螺纹塞规 V 头 / / ≤M50mm 螺纹塞规 V 头 / / >M(50〜150)mm 莫氏锥棒(光学检具) T 根 / / / 未定 内测千分尺 C 支 ±0.008mm / (5〜100)mm 内测千分尺 V 支 ±0.008mm / (5〜100)mm 内径百分表 C 只 / / (0〜450)mm 内径千分表 C 只 / / (0〜100)mm 内径千分表 C 只 / / (100〜200)mm 内径千分表 C 只 / / (200〜300)mm 内径千分表 C 只 / / (300〜400)mm 内径千分尺 C 支 / / (0〜250)mm 内径千分尺 C 支 / / (250〜600)mm 内径千分尺 C 支 / / (600〜1200)mm 内径千分尺 C 支 / / (1200〜3000)mm 内径千分尺 V 支 / / (0〜250)mm 内径千分尺 V 支 / / (250〜600)mm 内径千分尺 V 支 / / (600〜1200)mm 内径千分尺 V 支 / / (1200〜3000)mm 检测尺 C 件 / / / 内外直角检测尺 C 件 ±0.2mm / / 扭簧式比较仪 V 台 ±(0.15〜3)μm / ±100μm 偏摆仪 C 台 / / (300〜500)mm JJF 1109-2003 跳动检查仪校准规范 平板 C 块 (2.5〜272)μm / ≤300mm 平板 C 块 (2.5〜272)μm / (300〜500)mm 平板 C 块 (2.5〜272)μm / (500〜800)mm 平板 C 块 (2.5〜272)μm / (800〜1000)mm 平板 C 块 (2.5〜272)μm / (1000〜1500)mm 平板 C 块 (2.5〜272)μm / (1500〜2000)mm 平板 V 块 (2.5〜272)μm / ≤300mm 平板 V 块 (2.5〜272)μm / (300〜500)mm 平板 V 块 (2.5〜272)μm / (500〜800)mm 平板 V 块 (2.5〜272)μm / (800〜1000)mm 平板 V 块 (2.5〜272)μm / (1000〜1500)mm 平板 V 块 (2.5〜272)μm / (1500〜2000)mm 平尺 C 支 (2〜100)μm / (0〜1000)mm 平尺 C 支 (2〜100)μm / (1000〜3000)mm 平尺 V 支 (2〜100)μm / (0〜1000)mm 平尺 V 支 (2〜100)μm / (1000〜3000)mm 平面等厚干涉仪 C 台 / / Φ150mm JJF 1100-2003 平面等厚干涉仪校准规范 平面等厚干涉仪 Q 台 0.02μm / 0 〜 200mm JJF 1100-2003 平面等厚干涉仪校准规范 平面平晶 C 块 一级,二级 / D≤60mm，D>100mm〜150mm JJG28-2000平晶检定规程 平面平晶 Q 块 二等 / D:150mm JJG28-2000平晶检定规程 平面平晶 Q 块 一级,二级 / 100mm＜D≤150mm JJG28-2000平晶检定规程 平面平晶 Q 块 一级,二级 / 60mm＜D≤100mm JJG28-2000平晶检定规程 平面平晶 Q 块 一级,二级 / ≤60mm JJG28-2000平晶检定规程 平面平晶 V 块 一级,二级 / D≤60mm，D>60mm〜100mm JJG28-2000平晶检定规程 平行平晶 C 套 平面度:0.1μm 平行平晶 V 块 平面度:0.1μm 平行平晶 V 套 平面度:0.1μm 坡度尺 C 件 / / / 漆膜厚度仪 C 台 / / / 未定 千分表 C 只 0级,1级 / (0〜2)mm 数显千分表 C 只 0级,1级 / (0〜2)mm 千分表 C 只 0级,1级 / (0〜3)mm 数显千分表 C 只 0级,1级 / (0〜3)mm 千分表 C 只 0级,1级 / (0〜5)mm 数显千分表 C 只 0级,1级 / (0〜5)mm 千分表 V 只 0级,1级 / (0〜2)mm 数显千分表 V 只 0级,1级 / (0〜2)mm 千分表 V 只 0级,1级 / (0〜3)mm 数显千分表 V 只 0级,1级 / (0〜3)mm 千分表 V 只 0级,1级 / (0〜5)mm 数显千分表 V 只 0级,1级 / (0〜5)mm 千分表检定仪 C 台 ±2μm / (0〜2)mm 千分表检定仪 C 台 ±2μm / (0〜5)mm 千分表检定仪 Q 台 ±2μm / 0 〜 2mm 千分表检定仪 Q 台 / / 0 〜 5mm 千分表检定仪 V 台 ±2μm / (0〜2)mm 千分表检定仪 V 台 ±2μm / (0〜5)mm 千分尺 C 支 / / (100〜200)mm 千分尺 C 支 / / (200〜300)mm 千分尺 C 支 / / (300〜500)mm 千分尺 C 支 / / (500〜1000)mm 千分尺 C 支 / / (1000〜1500)mm 千分尺 C 支 / / (1500〜2000)mm 千分尺 C 支 / / (2000〜3000)mm 千分尺 V 支 / / (100〜200)mm 千分尺 V 支 / / (200〜300)mm 千分尺 V 支 / / (300〜500)mm 千分尺 V 支 / / (500〜1000)mm 千分尺 V 支 / / (1000〜1500)mm 千分尺 V 支 / / (1500〜2000)mm 千分尺 V 支 / / (2000〜3000)mm 千分尺(含壁厚) C 支 / / ≤100mm 千分尺(含壁厚) V 支 / / ≤100mm 塞尺 C 套 ±(3〜16)μm / (0.02〜1.0)mm 塞尺 V 套 ±(3〜16)μm / (0.02〜1.0)mm 三针 C 副 (-1.0〜+0.5)μm / (Φ0.118〜Φ10)mm 三针 V 副 (-1.0〜+0.5)μm / (Φ0.118〜Φ10)mm 三爪千分尺 C 支 / / (6〜50)mm 三爪千分尺 C 支 / / (50〜100)mm 三坐标测量机(手动) C 台 / / ≤500mm JJF1064-2010坐标测量机校准规范 三坐标测量机(手动) C 台 / / >500mm JJF1064-2010坐标测量机校准规范 三坐标测量机(自动) C 台 / / ≤500mm JJF1064-2010坐标测量机校准规范 三坐标测量机(自动) C 台 / / 500mm〜1000mm JJF1064-2010坐标测量机校准规范 三坐标测量机(自动) C 台 / / 1000mm〜2000mm JJF1064-2010坐标测量机校准规范 扫平仪 C 台 / / / JJF1064-2010坐标测量机校准规范 深度百分表 C 只 ±12μm / (0〜100)mm 深度百分表 V 只 ±12μm / (0〜100)mm 深度千分尺 C 支 ±0.005mm / (0〜150)mm 深度千分尺 V 支 ±0.005mm / (0〜150)mm 深度游标卡尺 C 支 ±(0.04〜0.10)mm / (0〜300)mm 深度游标卡尺 C 支 ±(0.05〜0.10)mm / (0〜500)mm 深度游标卡尺 V 支 ±(0.04〜0.10)mm / (0〜300)mm 深度游标卡尺 V 支 ±(0.05〜0.10)mm / (0〜500)mm 生物显微镜 T 台 / / (0〜100)mm JJG (教委) 012-1996 金相显微镜检定规程 十字芯棒(光学检具) T 根 / / 十字刻线的以轴线0°180°间横向偏差 未定 试模 T 孔 / / 测长,宽,高 手持式激光测距仪 C 台 / / (0〜100)m JJG966-2010手持式激光测距仪 数显测高仪 C 台 ±(3+L/300)μm / (0〜500)mm JJF1254-2010数显测高仪校准规范 数显测高仪 C 台 ±(3+L/300)μm / (0〜1000)mm JJF1254-2010数显测高仪校准规范 数显电感式比较仪 C 台 ±(0.03+0.005A)μm / ±1999μm 测角仪 Q 台 1″〜 2″ / 0°〜 360° JJG97-2001测角仪检定规程 测角仪 Q 台 > 2″〜 5″ / 0°〜 360° JJG97-2001测角仪检定规程 测角仪 V 台 1级,2级 / 0°〜 360° JJG97-2001测角仪检定规程 测角仪 V 台 5级~10级 / 0°〜 360° JJG97-2001测角仪检定规程 测量显微镜 C 台 ±(5+L/15)μm / (0〜50)mm JJG571-2004读数、测量显微镜检定规程 测量显微镜 V 台 ±(5+L/15)μm / (0〜50)mm JJG571-2004读数、测量显微镜检定规程 测微平行光管 C 台 / / / JJF1064-2010坐标测量机校准规范 长平晶 C 块 0.01μm, 0.03μm / 210mm,310mm JJG28-2000平晶检定规程 长平晶 V 块 0.01μm, 0.03μm / 210mm,310mm JJG28-2000平晶检定规程 超声波测厚仪 C 台 ±(0.1+H/100)mm / (0〜200)mm JJF1126-2004超声波测厚仪校准规范 齿厚游标卡尺 V 支 ±0.02mm / m1〜m50 触针式表面粗糙度仪 C 台 ±5% / / JJF1105-2003触针式表面粗糙度测量仪校准规范 触针式表面粗糙度仪 C 台 ±7% / Ra:(0.01〜80)μm JJF1105-2004触针式表面粗糙度测量仪校准规范 触针式表面粗糙度仪 C 台 ±10% / Ra:(0.01〜80)μm JJF1105-2005触针式表面粗糙度测量仪校准规范 触针式表面粗糙度仪 C 台 ±15% / Ra:(0.01〜80)μm JJF1105-2006触针式表面粗糙度测量仪校准规范 垂直度检测尺 C 件 ±0.15mm / / 磁阻法测厚仪 C 台 ±(0.5〜0.01H)μm
