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  • 电子电路失效分析

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  • 对应法规:IPC
    CNAS认可项目:是
  • 适用产品: 1.电子元器件包括元件(电阻、电容、继电器、开关、连接器等)、分立器件(二极管、三极管、MOSFET等)、集成电路(小、中、大、超大规模集成电路等)、微波器件、模块(电源模块、功率模块、频率模块等)、电路板及其组件。 2.PCB板:金属基板、柔性电路板、无卤素基板 3.PCBA:通孔焊接、SMT组装、BGA组装、MEMS 检测项目: 1.电子电路产品的机械性能、热学性能、电学性能、化学性能及可靠性分析; 2. 电子电路产品长期使用可靠性产品评测; 3. 电子电路产品使用过程失效后从物理及化学角度进行分析。 基本程序: 1. 信息收集(失效前后的背景资料); 2. 外观检查失效前后产品的差异(金相和体式显微镜) 3. 电性能测试(参数测试、功能测试等); 4. 非破坏性物理分析(X-Ray、X-SAM等); 5. 开封及去层(机械开封、化学开封与离子蚀刻); 6. 内部形貌观察(立体显微镜、金相显微镜、SEM、切片); 7. 内部电路分析(探针、FIB、电参数测试); 8. 其他分析与实验验证(SEM-EDS、TTIR、XPS等) 9. 综合分析与结论
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孙涛

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