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高分辨透射电子显微镜(TEM)，JEM-2100 是日本JEOL公司制造的高分辨率分析电子显微镜。可进行纳米材料形貌观察、高分辨率图像采集、微区能谱分析、电子衍射晶体结构分析等分析，可进行低倍及高分辨图像的观察。
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