测量仪器名称

校准参量

校准规范

测量范围

扩展不确定度（k=2）

平板

平面度

平板检定规程 JJG117-2013

(160×100～400×400)mm

U=0.9μm

(600×450～1500×1000)mm

U=2.2μm

(1600×1000～2500×1600)mm

U=2.9μm

通用卡尺

长度

通用卡尺检定规程 JJG30-2012

(0～1000)mm

U=8μm+7×10^-6xL，L：m

千分尺

长度

千分尺检定规程 JJG21-2008

千分尺(0～500)mm

U=1.0μm+7×10^-6xL，L：m

数显千分尺(0～500) mm

U=1.0μm+2×10^-6xL,L:m

内径表

长度

内径表校准规范 JJF1102-2003

内径百分表(2～35) mm

U=1.6μm

内径百分表(35～450) mm

U=2.1μm

内径千分表(2～450) mm

U=1.2μm

指示表

长度

指示表（指针式、数显式）检定规程 JJG34-2008

(0～10)mm

U=4μm

(0～1)mm

U=1.2μm

杠杆表

长度

杠杆表检定规程 JJG35-2006

(0～1)mm

U=3μm

(0～0.4)mm

U=0.6μm

杠杆千分尺、

杠杆卡规

长度

杠杆千分尺、杠杆卡规检定规程 JJG26-2011

杠杆千分尺(0～100) mm

U=0.2μm+3×10^-6xL,L:m

杠杆卡规(0～200) mm

U=0.82μm

螺纹千分尺

长度

螺纹千分尺检定规程 JJG25-2004

(0～75)mm

U=3μm

(75～150)mm

U=4μm

(150～200)mm

U=5μm

齿厚卡尺

长度

齿厚卡尺校准规范 JJF1072-2000

M(1～50)mm

U=13μm

公法线千分尺

长度

公法线千分尺检定规程 JJG82-2010

(0～200)mm

U=1μm+ 4×10^-6xL，L：m

高度卡尺

长度

高度卡尺检定规程 JJG31-2011

(0～500)mm

U=8μm+7×10^-6xL,L:m

深度千分尺

长度

深度千分尺检定规程 JJG24-2003

(0～25)mm

U=1μm

(25～275)mm

U=1.7μm+1×10^-6xL,L:m

深度百分表

长度

深度指示表检定规程 JJG830-2007

(0～100)mm

U=25μm+15×10^-6xL,L:m

四等量块

长度

量块检定规程 JJG146－2011

(0.5～100）mm

U=0.20μm+2×10^-6xL,L:m

测长仪

长度

测长仪校准规范 JJF1189-2008

(0~1000)mm

U=0.3μm+0.4×10^-6xL,L:m

接触式干涉仪

长度

接触式干涉仪检定规程 JJG101-2004

(-2.5~+2.5)μm

U=0.03μm

(-5~+5)μm

U=0.04μm

(-10~+10)μm

U=0.05μm

光学计

长度

光学计检定规程 JJG45-1999

(-100～+100)μm

U=0.2μm

工具显微镜

长度

工具显微镜检定规程 JJG56-2000

(0~200)mm

U=0.3μm+0.7×10^-6xL,L:m

测长机

长度

测长机校准规范 JJF1066-2000

(-100～+100)μm

U=0.2μm

(0～100)mm

U=0.3μm+0.3×10^-6xL,L:m

(100～1000)mm

U=0.4μm+2×10^-6xL,L:m

三坐标测量机

长度

坐标测量机校准规范 JJF1064-2010

(0~1000)mm

U=0.5μm+2×10^-6xL,L:m

百分表.

千分表检定仪

长度

指示类量具检定仪检定规程 JJG201-2008

(0~50)mm

U=0.2μm+0.4×10^-6xL,L:m

读数、测量显微镜

长度

读数、测量显微镜检定规程 JJG571-2004

(0～8)mm

U=0.2μm

(0～50)mm

U=1.4μm

齿轮跳动（偏摆）检查仪

长度

跳动检查仪校准规范 JJF1109-2003

(0～500)mm

U=4μm

数显测高仪

长度

数显测高仪校准规范 JJF1254-2010

(0～1000)mm

U=0.3μm +2.6×10^-6xL,L:m

磁性、电涡流式覆层厚度测量仪

长度

磁性、电涡流式覆层厚度测量仪检定规程 JJG818-2005

(5～50)μm

U=0.4μm

(50～1000)  μm

U=1.6μm+5.3×10^-6xL,L:m

超声波测厚仪

长度

超声波测厚仪校准规范 JJF1126-2004

(0.5～200)mm

U=7μm

投影仪

长度

投影仪校准规范 JJF1093-2002

(0～200)mm

U=0.3μm+0.7×10^-6xL,L:m

万能角度尺

角度

万能角度尺检定规程 JJG33-2002

(0～320)°

U=1＇

(0～360)°

U=3＇

小角度检查仪

角度

小角度检查仪检定规程 JJG300-2002

(0～40)'

U=0.3"

光学倾斜仪

角度

光学倾斜仪校准规范 JJF1083-2002

(0～360)°

U=3.4″

框式、条式水平仪

角度

框式水平仪和条式水平仪校准规范 JJF1084-2002

(0.02～0.15)mm/m

U=0.004mm/m

合象水平仪

角度

电子水平仪和合像水平仪检定规程 JJG103-2005

(0～10)mm/m

U=0.002mm/m

触针式表面粗糙度测量仪

粗糙度

触针式表面粗糙度测量仪校准规范 JJF1105-2003

Ra(0.1～0.4)μm

U_rel=3.9%

Ra(0.4～1.6)μm

U_rel=3.0%

Ra(1.6～3.2)μm

U_rel=0.4%

平尺

直线度

平尺校准规范 JJF1097-2003

(0～1000)mm

U=0.2μm+5×10^-6xL,L:m

方箱

垂直度

方箱检定规程 JJG194-2007

(100×100)mm ～ (400×400)mm

U=3.2μm

圆度、圆柱度测量仪

长度

圆度、圆柱度测量仪检定规程 JJG429-2000

(0～300)mm

U=0.05μm

光滑极限量规

长度

光滑极限量规检定规程 JJG343-2012

D≤500mm

U=1.4μm

内径千分尺

长度

内径千分尺检定规程 JJG22-2013

(0～900)mm

U=1μm+2×10^-6xL,L:m

刀口形直尺

直线度

刀口形直尺检定规程 JJG63-2007

(0～500)mm

U=（0.4～0.8）μm

正弦规

角度

正弦规检定规程 JJG37-2005

0°～30°20′

U=4.5″

塞尺

厚度

塞尺检定规程 JJG62-2007

(0.02～3.0)mm

U=1.5μm

针规、三针

长度

针规、三针校准规范 JJF1207-2008

三针:ф(0.118～6.585)mm

U=0.2μm

针规:ф(0.1～25)mm

U=0.2μm+5×10^-6xL,L:m

电感测微仪

长度

电感测微仪校准规范 JJF1331-2011

(-1~+1)mm

U=(0.02～1.6)μm

带表卡规

长度

带表卡规校准规范 JJF1253-2010

(5～100)mm

U=9μm+10×10^-6xL,L:m

大量程百分表

长度

大量程百分表检定规程 JJG379-2009

指针式:(0～50)mm

U=11μm

数显式:(0~50)mm

U=8.2μm

带表千分尺

长度

带表千分尺检定规程 JJG427-2004

(0～100)mm

U=0.9μm+2×10^-6xL,L:m

水平尺

角度

水平尺校准规范 JJF1085-2002

(0～15°30")

U=（0.08～0.8）mm/m

焊接检验尺

长度

焊接检验尺检定规程 JJG704-2005

(0～60)mm

U=0.02mm

角度

(0～120)°

U=8′