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高加速寿命试验(Highly Accelerated Life Testing，简称HALT试验)是一种利用快速高、低温变换的震荡体系来揭示电子和机械装配件设计缺陷和不足的过程。HALT的目的是在产品开发的早期阶段识别出产品的功能和破坏，从而优化产品的可用性。

HALT以连续的测试、失效分析、缺陷改进及验证构成了整个程序，而且可能是个闭环循环过程。试验的主要功能如下:

1.利用高环境应力将产品设计缺陷激发出来，并加以改善;

2. 了解产品的设计能力及失效模式;

3. 作为高应力筛选及制定品质核查规格的参考;

4. 快速找出产品制造过程的瑕疵;

5. 增加产品的可用性，减少维修成本;

6. 建立产品设计能力数据库，为研发提供依据并缩短设计制造周期。

高加速寿命试验的具体测试内容包括以下几点:

1. 逐步施加应力直到产品失效或出现故障;

2. 采取临时措施，修正产品的失效或故障;

3. 继续逐步施加应力直到产品再次失效或出现故障，并再次加以修正;

4. 重复以上试验→失效→改进的步骤;

5. 找出产品的基本操作界限和基本破坏界限。

试验项目：

• 低温步进应力试验

• 高温步进应力试验

• 快速热循环试验

• 振动步进应力试验

• 综合应力试验

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