【检测概述】 在金属材料、陶瓷材料、半导体材料、化学材料、高分子材料、功能复合材料等材料科学研究领域对各种材料进行形貌组织观察、成分分析、材料断口分析和失效分析、材料实时微区成分分析、元素定量、定性成分分析；快速的多元素面扫描和线扫描分布测量，晶体、晶粒的相鉴定，晶粒尺寸、形状分析，晶体、晶粒取向测量。

【检测项目】  材料表面的微观组织及形貌分析；微区成分分析。

【检测仪器】        

场发射扫描电子显微镜：德国卡尔蔡司，型号∑IGMA（配有能谱仪）。      

其技术指标：超高放大倍数10-100万倍，高分辨率1.2nm@15kv  2.2nm@1kv， 电子光学系统 加速电压:0.5kv～30kv；能谱仪型号：X-Maxn，牛津仪器。

【检测实例】   我院与清华大学、哈尔滨工业大学等高校有着长期的合作。