一、X-Ray测量镀层厚度:

　　测试标准依据：GB/T 16921-1997《金属覆盖层 厚度测量 X射线光谱方法》

　　测量方法:使用X-Ray荧光光谱仪测量覆盖层的厚度，是利用X-Ray轰击覆盖层，然后接收器接受到覆盖层中元素的特征X谱线，根据接受到谱线能量的大小，再与系统中预先设定的同元素能量大小及对应的厚度值进行比较，计算出各个覆盖层的厚度。

　　适用范围”使用X射线荧光光谱仪对电镀层的厚度进行测量。

　　测试范围：理论最小测量值0.1μm

　　二、(显微镜法)镀层厚度测量：

　　测试标准依据：GB/T 6462-2005《金属和氧化物覆盖层厚度测量显微镜法》

　　测量方法:使用金相显微镜测量覆盖层的厚度，是利用显微镜将覆盖层的横截面放大至1000倍以上，直接在显示屏上显示覆盖层，然后用鼠标移动十字交叉线分别瞄准覆盖层的起始线、分界线和终结线，测量出各个覆盖层的厚度。

　　测试范围：理论最小测量值1μm