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检测依据标准：GB/T 18043-2008《首饰贵金属含量的测定 X射线荧光光谱法》
测量方法：使用X-Ray荧光光谱仪测量覆盖层的厚度，是利用X-Ray轰击覆盖层，然后接收器接受到覆盖层中元素的特征X谱线，根据接受到谱线能量的大小，再与系统中预先设定的同元素能量大小及对应的厚度值进行比较，计算出各个覆盖层的厚度。
检测周期：3个工作日。
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