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对应法规::IPC-TM650-2.1.1/2.25 IPC-A-610D
CNAS认可项目:是
- 目的:电子元器件表面及内部缺陷检查及SMT制程改善&验证。
适用范围: 适用于电子元器件结构剖析,PCBA焊接缺陷,焊点上锡形态及缺陷检测等.
使用仪器:精密切割机,镶埋机,研磨及抛光机,金相显微镜,电子显微镜等。
测试流程:取样 镶埋 研磨 抛光 腐蚀 观察拍照
常规检验项目及标准:IPC-TM650-2.1.1/2.25 IPC-A-610D
1.PCB结构缺陷:PCB分层,孔铜断裂等
2.PCBA焊接质量检测:
a.BGA空焊,虚焊,孔洞,桥接,上锡面积等;
b.产品结构剖析:电容与PCB铜箔层数解析,LED结构剖析,电镀工艺分析,材料内部结构缺陷等;
c.微小尺寸量测(一般大于1um):气孔大小,上锡高度,铜箔厚度等。
测试报告示例:
(1)测试设备:
名 称
型 号
校准有效期
金相显微镜
AXIO Imager. A1m
2010年09月15日
(2)环境条件:温度:23±2℃; 湿度:55±5%RH
(3)参考标准:IPC-TM 650 2.1.1
(4)测试样品:001
(5)测试条件:样品经过切割、冷镶、研磨、抛光后,用金相显微镜对其测试位置进行放大观察并拍照。
(6)测试结果:
样品
测试位置
结果描述/上锡量
判定规格
(客户提供)
评判结果
001-CE12
信号脚
接口润湿良好,孔内垂直填充高度约为57%.
爬锡高度
标准:信号
脚>75%;接
地脚>50%。
拒收
接地脚
接口润湿良好,孔内垂直填充高度约为36%.
拒收
001-CE55
信号脚
接口润湿良好,孔内垂直填充高度约为67%.
允收
接地脚
接口润湿良好,孔内垂直填充高度约为56%.
允收
合格率
50%
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