检测认证人脉交流通讯录
表面成分分析
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对应法规:GB,ASTM
CNAS认可项目:是
- 做表面成分分析方法:
AES:材料表面形貌观察及表面不同深度的无机物成分分析,最小分析深度:表面3nm,剖面分析深度:2-20nm,检出限:0.1-1at%。
X射线光电子(XPS/ESCA):材料表面不同深度组成元素的定性、半定量及价态分析,最小分析深度:表面2nm,检出限:0.01-1at%。
EDS:表面形貌观察20000倍及表面无机物成分分析,
EDS(C后面的元素)分析深度:表面0.3~5μm,成分检出限:0.1%。
XRD:表征材料的晶体结构,织构及应力,进行物相分析,定性分析和半定量分析.只有图谱的标准卡,无对应的测试标准。检出限:1at%。