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太阳能板组件测试第三方报告IEC/TS 62804-1认证
DIN IEC/TS 62804-1-2017
光伏(PV)模块.检测电位诱导衰减的试验方法.第1部分:晶体硅(IEC/TS 62804-1-2015)
Photovoltaic (PV) modules - Test methods for the detection of potential-induced degradation - Part 1: Crystalline silicon (IEC/TS 62804-1:2015)
IEC62804标准的双85抗PID测试(测试条件为±1000V电压,85摄氏度、85%相对湿度,96小时)
IEC62804标准的双85抗PID测试(测试条件为±1500V电压,85摄氏度、85%相对湿度,192小时)
光伏组件卓越的抗PID性能确保了组件的高质量和高可靠性,保证了光伏电站的稳定运行,特别是保障了电站在高温潮湿等特殊气候条件下25年生命周期内的平稳运作。
我司(安博检测)测试项目:LID光致衰减,PID(抗电势诱导衰减),TC,HF,DH,ML,OD,RC,HS等
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多晶太阳能光伏组件,单晶硅光伏组件,非晶硅薄膜光伏组件,晶体硅光伏组件
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安博检测光伏产品优势项目标准如下,欢迎联系我们:
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