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  • 光伏玻璃PID抗衰减测试报告IEC/TS 62804-1检测机构

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  • 对应法规:IEC/TS 62804-1
    CNAS认可项目:是
  •  光伏玻璃PID抗衰减测试报告IEC/TS 62804-1检测机构
    光伏(PV)模块.检测电位诱导衰减的试验方法.第1部分:晶体硅(IEC/TS 62804-1-2015)

    Photovoltaic (PV) modules - Test methods for the detection of potential-induced degradation - Part 1: Crystalline silicon (IEC/TS 62804-1:2015)

    我司(安博检测)测试项目:LID光致衰减,PID(抗电势诱导衰减),TC,HF,DH,ML,OD,RC,HS等

    1、在组件的PID衰减过程中,温度因素起到加速老化衰减的作用非常明显;

     2、在组件的PID衰减过程中,水蒸气分压(湿度)作为组件PID衰减的主要“诱因”因素,在组件的PID衰减过程中起到关键性作用;

    3、在组件的PID测试过程中,导电铝箔能够很好的保持组件玻璃表面和内部电路之间的电场均匀,平衡个电池片之间的PID衰减作用非常明显;

    4、组件PID测试以60℃、85%RH、-1000V电压、组件表面贴导电铝箔为测试条件(环境),测试时间为96小时比较合适。按照IE61215标准相应规定来判断组件是否合格。

    安博检测是国内首家民营光伏产品测试实验室,价格合理周期快,欢迎随时来电来信咨询,咨询电话13480686521(微信同号), QQ2213430959    邮箱:ivy.liu@anbotek.com  联系人:刘工

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