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我司（安博检测）测试项目：LID光致衰减，PID(抗电势诱导衰减)，TC,HF,DH,ML,OD,RC,HS等

1、在组件的PID衰减过程中，温度因素起到加速老化衰减的作用非常明显；

2、在组件的PID衰减过程中，水蒸气分压（湿度）作为组件PID衰减的主要“诱因”因素，在组件的PID衰减过程中起到关键性作用；

3、在组件的PID测试过程中，导电铝箔能够很好的保持组件玻璃表面和内部电路之间的电场均匀，平衡个电池片之间的PID衰减作用非常明显；

4、组件PID测试以60℃、85%RH、-1000V电压、组件表面贴导电铝箔为测试条件（环境），测试时间为96小时比较合适。按照IE61215标准相应规定来判断组件是否合格。

安博服务的产品有：

光伏组件，晶体硅组件，太阳能板，光伏电池板，太阳能光伏板，太阳能电池板，光伏器件

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