IEC/TS 62804检测机构光伏组件PID性能测试第三方权威实验室

DIN IEC/TS 62804-1-2017
光伏(PV)模块.检测电位诱导衰减的试验方法.第1部分:晶体硅(IEC/TS 62804-1-2015)

Photovoltaic (PV) modules - Test methods for the detection of potential-induced degradation - Part 1: Crystalline silicon (IEC/TS 62804-1:2015)

光伏组件卓越的抗PID性能确保了组件的高质量和高可靠性，保证了光伏电站的稳定运行，特别是保障了电站在高温潮湿等特殊气候条件下25年生命周期内的平稳运作。

我司（安博检测）测试项目：LID光致衰减，PID(抗电势诱导衰减)，TC,HF,DH,ML,OD,RC,HS等

1、在组件的PID衰减过程中，温度因素起到加速老化衰减的作用非常明显；

2、在组件的PID衰减过程中，水蒸气分压（湿度）作为组件PID衰减的主要“诱因”因素，在组件的PID衰减过程中起到关键性作用；

3、在组件的PID测试过程中，导电铝箔能够很好的保持组件玻璃表面和内部电路之间的电场均匀，平衡个电池片之间的PID衰减作用非常明显；

4、组件PID测试以60℃、85%RH、-1000V电压、组件表面贴导电铝箔为测试条件（环境），测试时间为96小时比较合适。按照IE61215标准相应规定来判断组件是否合格。

安博检测是国内首家民营光伏产品测试实验室，价格合理周期快，欢迎随时来电来信咨询，咨询电话13480686521（微信同号）, QQ2213430959    邮箱：ivy.liu@anbotek.com   联系人：刘工

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