TEM原理

透射电子显微镜（缩写TEM），简称透射电镜，是把经加速和聚集的电子束投射到非常薄的样品上，电子与样品中的原子碰撞而改变方向，从而产生立体角 散射。散射角的大小与样品的密度、厚度相关，因此可以形成明暗不同的影像。

仪器技术参数

　　- TWIN物镜系统, 点分辨率 0.27nm

　　- 样品最大倾角 +/- 70°

　　- Cryo液氮冷冻样品台及冷冻转移设备

　　- 全自动化的数据采集和数据处理系统

送样要求

粉状样品1-5g之间，能把3-5mm直接样品填满即可。块状样品不能大于5mm宽，高度小于5mm.

应用领域

金属、非金属及复合材料的观察分析；

纳米粉及纳米粉体的形貌观察和粒度测量统计；

微区成分的定性、定量计算，并对重点区域做元素分布图；

可对固体材料的表面涂层、镀层进行结合情况观察和厚度测量；

机械设备、压力容器、管道及汽车零件的失效分析。

适用标准

专业、高效、精准、高性价比是剂拓公司的服务宗旨。

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