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  • 中国科学院广州化学研究所分析测试中心--李工--13603044558 扫描电子显微镜,又名SEM,扫描电镜,是一种在真空下用电子束扫描样品表面,逐点激发二次电子信号,根据信号强度组成形貌照片,做高倍率的表面外观形貌观察的仪器,检测流程包括制样、上机观察拍照,最后提供外观形貌照片等数据。 在半导体器件的失效分析中,可用二次电子像来观察芯片表面金属引线的短路、开路、电迁移、氧化层的针孔和受腐蚀的情况,还可用来观察硅片的层错、位错和抛光情况及作为图形线条的尺寸测量等。 EDS能谱仪,又名显微电子探针,是一种分析物质元素的仪器,常与扫描电镜或者透射电镜联用,在真空室下用电子束轰击样品表面,激发物质发射出特征x射线,根据特征x射线的波长,定性与半定量分析元素周期表中Be以上的物质元素,检测流程包括电镜样品制备,上机操作分析,最后提供成份分析谱图与半定量成份组成比等数据。 能谱仪除了分析速度快,可做定量计算外,还可以选择不同的方式进行分析,即可选点、线及区域进行分析,还可做不同元素的面分布图(mapping)。 主要用途: 1、外观形貌观察,放大1000倍到30万倍率,尺寸测量等; 2、选定微小位置区域,探测元素成份与含量;3、是失效分析当中对于微小痕量金属物质检测的最重要的检测手段。即可选点、线及区域进行分析,还可做不同元素的面分布图。

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