军工芯片、集成电路筛选与量产测试

       军工集成电路的筛选方法与程序主要依据GJB 548B-2005 微电子器件试验方法和程序。本标准规定了军*微电子器件的环境、机械、电气试验方法和试验程序，以及为保证微电子器件满足预定用途所要求的质量和可靠性而必须的控制和限制措施。

       GJB 548B-2005标准适用于军*及空间应用的微电子器件。如果承制方标明或声称其半导体集成电路符合本标准的规定，则必须满足方法 5004、5005 或5010（对复杂微电路）的要求，混合集成电路应满足GJB 2438的要求，同时应满足本标准的一般要求和所引用的其他试验方法的要求，而且产品规范应经标准化机构确认。

军工芯片、集成电路筛选方法与程序：

芯片、集成电路老练及参数测试要求：

集成电路筛选覆盖器件：

时基电路、总线收发器、缓冲器、驱动器、电平转换器、门器件、触发器、LVDS线收发器、运算放大器、电压调整器、电压比较器、电源类芯片（稳压器、开关电源转换器、电源监控器、电源管理等）、致模转换器（A/D、D/A、SRD）、存储器、可编程逻辑器件、单片机、微处理器、控制器等;

我们的设备能力：

1.老炼需要的设备：

Ø 集成电路高温动态老炼系统、混合集成电路高温动态老炼系统、

Ø 电源模块高温老炼检测系统、分立器件综合老炼检测系统、

Ø 分立器件间歇寿命试验系统、电容器高温老炼检测系统、

Ø 继电器低电平寿命筛选系统、电容高温反偏老炼系统、

Ø 二极管恒流老炼系统。

2.电测试需要的设备：

Ø 阻抗分析仪、高阻计、耐压测试仪、半导体参数分析仪、

Ø 高精度图示仪、可编程电源、电子负载、示波器

Ø 频谱分析仪。

3.目检、外观检查需要设备：

Ø 光学显微镜、金相显微镜。

4.理化检测能力覆盖：

ü 外观检测、内部无损检测、密封性测试、内部缺陷测试。

公司简介：

      广电计量检测股份有限公司（广电计量）从1964年开始从事计量检定工作，是原信息产业部电子602计量站，历经五十余年的技术 沉淀，持续变革创新，实现跨越式发展，成长为一家全国性、综合化、军民融合的国有第三方计量检测机构，获得了CNAS、DILAC、CMA、CATL，以及“军工四证”等政府和⾏业众多权威机构的认可资质。

        广电计量可靠性与环境试验中心具备环境与可靠性试验、六性设计与分析、元器件筛选与失效分析、仿真设计与分析、材料分析与工艺质量评价、定寿延寿分析等服务能力，可为系统、整机、部件等各类产品提供从研发到生产的全过程技术解决方案。