TEM样品制备

       在材料科学的研究中，TEM样品制备在电子显微学研究工作中，起着至关重要作用，是丰常精细的技术工作。要想得到好的TEM结果，首先要制备出好的薄膜样品。

       TEM样品制备在电子显微学研究中起着非常重要的作用，传统的常规制备方法有很多，例如：化学减薄，电牌双喷，解理、超薄切片.粉碎研磨、FIB聚焦高子束，机械减薄、离子减薄，这些方法都能制备出比较好的薄膜样品，

TEM样品类型∶

• 块状：用于普通微结构研究；
• 平面-用于薄膜和表面附近微结构研究；
• 横截面样品：均匀薄膜和界面的微结构研究；
• 小块物体∶ 粉末，纤维，纳米量级的材料。

我们的TEM样品制备能力：

• 非定点TEM样品制备(截面, Si)；
• 定点TEM样品制备(截面, Si)；
• 非定点TEM样品制备(平面, Si)；
• 定点TEM样品制备(平面, Si)；
• 非定点TEM样品制备(截面, Non-Si)；
• 定点TEM样品制备(截面, Non-Si)；
• 非定点TEM样品制备(平面, Non-Si)；
• 定点TEM样品制备(平面, Non-Si)