芯片FT测试:电流电压参数测试、性能测试

      芯片FT测试（Final Test 简称FT）是指芯片在封装完成后以及在芯片成品完成可靠性验证后对芯片进行测功能验证、电参数测试。主要的测试依据是集成电路规范、芯片规格书、用户手册。

      目前芯片FT测试主要用到ATE测试系统，包括软件和测试设备、测试硬件。FT测试主要测试项目如下：

• Open/Short test: 检查芯片引脚中是否有开路或短路。
• Function test: 测试芯片的逻辑功能。
• DC test: 验证器件直流电流和电压参数。
• AC test: 验证交流规格，包括交流输出信号的质量和信号时序参数。
•  Eflash test: 测试内嵌flash的功能及性能，包含读写擦除动作及功耗和速度等各种参数。
• Mixed Signal test: 验证DUT数模混合电路的功能及性能参数。
• RF test: 测试芯片里面RF模块的功能及性能参数。