这真不是您需要的服务?
IGBT功率半导体动态参数、静态参数测试
功率器件在新能源汽车、智能电网等领域有广泛应用,其中,IGBT技术瓶颈不断被打破,第三代半导体功率器件也开始由实验室阶段步入商业应用。通常这些新型器件测试要求更高的电压和功率水平,更快的开关时间,对测试设备及人员技术要求高,在研发时间与成本的双重压力下,全参数测试成为不少制造商的难题。
解决方案
广电计量(GRGT)积极布局新型IGBT及第三代半导体功率器件的测试业务,引进国际先进的测试技术,为功率半导体产业上下游企业提供器件全参数检测服务。同时,广电计量通过构筑检测认证与分析一体化平台,为客户提供器件可靠性验证及失效分析,帮助客户分析失效机理,指导产品设计及工艺改进。
IGBT试验项目
静态参数:BVDSS IDSS、IGSSVGSth)、 RDS(on)、VvDSoni VSD、Rg、Cies、Coes、Cres、s、Vespl);
动态参数:td(on)、tr、tdof)、tf、Eon Eoff、tr、Qrr、Irm、dirr/dt、QG、QGC、QGE…
其他参数:Rth(j-c)、Unclamped Inductive Switching、RBSOA、SCSOR…
覆盖标准
·AEC-Q101分立器件认证
·MIL-STD-750半导体器件试验方法
·IEC60747系列Semiconductor Devices, Discrete Devices
·GB/T29332半导体器件-分立器件-第9部分∶绝缘棚双极晶体管(GBT)
·AQG324功率模块车规认证
IGBT参数测试业务联系人:李经理 138 0884 0060
lisz@grgtest.com
参数 |
符号 |
范围 |
|||
Input capacitance |
Cies |
100fF~1uF |
|||
Output capacitance |
Coes |
100fF~1uF |
|||
Reverse transfer capacitance |
Cres |
100fF~1uF |
|||
Total gate charge |
QG |
1nC~100uC |
|||
Gate-Emitter charge |
QGC |
1nC~100uC |
|||
Gate-Collector charge |
QGE |
1nC~100uC |
|||
Turn-on delay time |
td(on) |
10-10000ns |
|||
Rise time |
tr |
10-10000ns |
|||
Turn-off delay time |
td(off) |
10-10000ns |
|||
Fall time |
tf |
10-10000ns |
|||
参数 |
符号 |
范围 |
|||
Turn-on energy |
Eon |
1-10000mJ |
|||
Turn-off energy |
Eoff |
1-10000mJ |
|||
Diode reverse recovery time |
trr |
10-10000ns |
|||
Diode reverse recovery charge |
Qrr |
MAX 10000nC |
|||
Diode peak reverse recovery current |
Irrm |
1A~2000A |
|||
Diode peak rate of fall of reverse recovery current |
dirr/dt |
10-50000A/us |
|||
Reverse biased safe operating area |
RBSOA |
/ |
|||
Short circuit safe operation area |
SCSOA |
MAX 5000A |