主要技术指标
Quanta 400 FEG场发射扫描电子显微镜是表面分析重要的表征工具之一,具有灵活先进的自动化操作系统。具有三种成像真空模式--高真空模式、低真空模式和ESEMTM模式,可以观察分析各种类型的样品。它可以对处理过的样品和未处理的原始样品提供微米、纳米级表面特征的图像和微观分析数据。在生物学、地质、医学、金属材料、高分子材料、化工原料、考古以及其他领域中得到日益广泛的应用。本仪器还配有INCA X-射线能谱仪和EBSD背散射电子衍射系统,元素分析范围为4Be~92U,同时可进行晶体结构和取向分析。
1、电镜的分辨率:2 nm放大倍数:7 ~ 500,000
2、扫描电镜分辨率:30kV高真空、低真空: 2.0nm;3kV低真空: 3.5nm
3、30kV透射扫描(STEM)分辨率:1.5nm;环境真空模式下30kV时,分辨率2.0nm
4、能谱元素分析范围:5B~92U
5、EBSD空间分辨率(Al, 20kV): 0.1μm FEG SEM;角度分辨率优于0.5度
6、相鉴定功能:包括七大晶系,具有最大的相鉴定数据库
主要功能
热场发射环境扫描
可进行显微形貌、显微成分、显微结构和显微织构的分析测试。
技术特色
高技术服务
主要测试或应用领域
医疗/卫生,矿业/冶金,石油/化工,材料/珠宝首饰,食品/药品,大气/海洋/土壤/环境,天文,考古
联系人姓名:赵文霞、程小宁
联系人电话:84110783