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主要技术指标 |
靶材：铜靶铜靶40KV,40mA；扫描角度范围：2θ：0.6-140度； 精度高，角度重现性达±0.0001°，最小步长为0.0001°；步进马达 + 光学编码器确保测角仪快速而准确定位；样品台水平固定，适合测试松散固体、块状固体、薄膜等；可θ，2θ单独驱动，工作模式为θ/θ模式；新型的NaI晶体闪烁计数器，具有低背底（0.04 cps），高线性范围（2×106cps）的特点。 |
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应用技术领域 |
可对多晶以及非晶样品举行结构分析，如物相定性以及定量分析，衍射谱图指标化及点阵参数标定，晶粒尺寸及点阵畸变标定，衍射图谱拟合批改晶体结构（WPF），残余应力标定，织构分析（ODF表示立体极图），结晶度、薄膜标定。高温衍射，在不同的高温下进行衍射扫描，从而分析其相变规律。小角衍射等。 |
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学科领域 |
广泛应用于物理、化学、药物学、冶金学、高分子材料、生命科学及材料科学。可以分析黏土矿物、合金、陶瓷、食品、药物、生物材料、建筑材料、高分子材料、半导体材料、超导材料、纳米材料、超晶格材料和磁性材料的物相鉴定，材料可以是单晶体、多晶体、纤维、薄膜等片状、块状、粉末状固体，为科学研究提供准确可靠的数据。 |
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主要功能 |
高温反应附件：室温～1300 K，程序控温，可在真空或空气环境中测试 ；固体探测器：能量分辨率好，尤其适合金属材料（有荧光）、微量相（峰弱，要求信噪比好）的检测；LynxEye 探测器：由192个子探测器阵列组成，良好的低角度测量，该探测器免维护，使用方便；Goebel镜技术是纳米级薄膜分析最有利的工具； KEC阻光刀架薄膜反射平台：专为薄膜分析而设计，含样品高度调整、样品倾斜调整、样品狭缝调整、样品真空负吸定位等薄膜分析功能。 |
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主要附件 |
高低温附件；LynxEye 探测器；固体探测器； 旋转透射样品台； 毛细管样品台；薄膜样品台；强大的智能化多用途软件平台。 |
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样品要求或共享须知 |
粉末试样：直接放在塑料（或玻璃）样品皿中用特制玻璃压平，平放在样品台上测试（如果粉末颗粒比较粗，则需研磨）。固体粉末：大于1g，建议事先处理300目左右 薄膜试样：直接平放在样品台上，进行测试。 块状固体：选取一个光洁平整的面，平放在样品台上测试。 液体试样：倒入塑料样品皿中平放在样品台上测试。 |
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收费标准 |
80元/样，高低温300元/时。 |
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仪器状态 |
空闲 |
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共享模式 |
校内共享 |
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仪器地点 |
唐仲英楼L408室 |
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仪器管理员 |
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序号 |
姓名 |
联系电话 |
电子邮箱 |
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1 |
史红旗 |
025-83686583 |
shihq@nju.edu.cn |
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