主要技术指标:1、X射线光源部分X射线发生器部分和X光管。2、测角仪部分3、探测器部分化合物硅一维阵列探测器4平行光多层膜反射镜5应用软件:物相检索软件:数据库:最新的PDF2卡片光盘。物相定量分析:可编程定量分析软件。固溶体类样品研究分析。线形分析软件:采用基本参数法
功能/应用范围:射线衍射仪属于常规薄膜分析技术手段,D8可以进行:1)衍射数据测量;2)物相定性分析;3)物相定量分析;3)PDF2数据库;4)晶胞动态调整;5)3D显示;6)积分强度、半高宽等计算;7)简单晶粒大小测量。
主要测试和研究领域:电子/信息技术
仪器负责人:刘冉,蒋玉龙
电话:65643768
电子邮件:yljiang@fudan.edu.cn