联系人:陈文觉(56332496)
仪器简介:
取向成象分析系统配备在扫描电子显微镜上,该系统使扫描电镜能在原有的功能即形貌观察的基础
上,进一步进行晶体取向、微观结构的分析研究,大大拓宽和深化了扫描电镜的研究领域。该系统可进
行晶体取向分布测定、取向分布函数以及极图与反极图的显示和计算、物相鉴定等。
主要技术指标:
入射束为4nA时,图象积分时间<1秒。
应用范围:
晶体取向分布测定、取向分布函数以及极图与反极图的显示和计算、物相鉴定。
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