技术指标:最大输出功率:3kW 靶材:铜靶,探测器:半导体阵列探测器测角仪角度重现性:0.0001° 角分别率:<0.037°,最大背景:<0.1cps 转动方式:θ/θ测角仪,角度测试范围(2θ):-4°~150°温度测量范围:室温-1200℃。仪器包括长寿命陶瓷X光管、X射线发生器、高精密测角仪、阵列探测器、高温附件、微区分析附件、毛细管分析附件、计算机控制系统、数据处理软件、相关应用软件和循环冷却水装置。
仪器用途:仪器采用当前最先进的技术,能够精确地对金属和非金属多晶粉末样品进行物相检索分析、物相定量分析、基本参数法线形分析分析、晶胞参数计算和固溶体分析、微观及宏观应力分析,材料织构与应力分析,微区分析,高温分析,适用于化学、材料、环境、食品、药学、生命科学等学科。
收费标准:常规物相分析 120元/样,其他检测价格面议。
机组负责人:孙秀娟 0511-88792767 sys417@ujs.edu.cn